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장인혁 (한국기계전기전자시험연구원) 오길구 (한국기계전기전자시험연구원) 이영주 (한국기계전기전자시험연구원) 김명수 (수원대학교) 오근태 (수원대학교) 임홍우 (한국기계전기전자시험연구원)
저널정보
한국신뢰성학회 한국신뢰성학회 학술대회논문집 한국신뢰성학회 2016 추계학술대회 논문집
발행연도
2016.11
수록면
29 - 35 (7page)

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본 논문에서는 최근 LED 전원장치의 다양한 기능의 요구와 설계로 인해 다양하게 개발된 제품들이 신뢰성시험 중 휘스커 및 이온-마이그레이션, 방열문제, 스위칭소자 파손 등 설계 특성에 따라 서로 다른 고장메커니즘이 나타남을 확인하였다. LED 전원장치의 설계특성에 따라 다양하게 나타나는 고장메커니즘 분석을 위해 3 가지 Type으로 분류하였고, 85 ℃, 85 %. R.H.의 조건에서 1,000시간 신뢰성시험을 통해 LED 전원장치의 Type별로 나타나는 고장메커니즘을 재현 및 분석하였다.

목차

요약
1. 서론
2. 주요 고장현상 및 원인
3. 시험 설계
4. 시험 및 결과
5. 결론
참고문헌

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