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한국산학기술학회 한국산학기술학회 논문지 한국산학기술학회논문지 제10권 제6호
발행연도
2009.6
수록면
1,191 - 1,195 (5page)

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본 논문에서는 스캔 체인의 레이아웃 거리를 고려한 효율적인 Test Wrapper 설계 방식을 제안한다. SoC내의 스캔체인들을 테스트하기 위해서는 외부 TAM 라인(line)에 각 스캔체인들을 할당해야 한다. IP 내에 존재하는 스캔체인들은 정상모드에서는 타이밍 위반(Timing Violation)이 발생하지 않도록 레이아웃이 되지만, 테스트 모드에서는 TAM 라인(line)과 연결되는 스캔체인들 간에 부가적인 레이아웃 거리를 갖게 되므로 스캔체인에서 타이밍 위반이 발생될 수 있다. 본 논문에서는 타이밍 위반이 발생하지 않도록 체인간 레이아웃거리를 고려하여 스캔체인을 할당하는 새로운 test wrapper 설계 방식을 제안하였다.

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