A Low Power Scan Design Architecture

Insoo Kim ,  Susik Pa ,  k 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2004 .10

저 진력을 고려한 스캔 체인 수정에 관한 연구

박수식 ,  김인수 ,  정성원 외 1명

한국정보과학회 학술발표논문집

2005 .11

스캔체인의 레이아웃 거리를 고려한 Test Wrapper 설계

정준모

한국산학기술학회 학술대회논문집

2008 .05

BIST 환경에서의 천이 억제 스캔 셀 구조

김인철 ,  송동섭 ,  김유빈 외 2명

전자공학회논문지-SD

2006 .06

System-On-a-Chip(SOC)에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트

정준모 ,  정정화

전자공학회논문지-SD

2002 .12

테스트 시간과 테스트 전력 감소를 위한 선택적 세그먼트 바이패스 스캔 구조

양명훈 ,  김용준 ,  박재석 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .05

자체 스캔 체인을 이용한 Built-In Self-Test 구조에 관한 연구

한진욱 ,  민형복

전자공학회논문지-SD

2002 .03

3D IC 를 위한 저전력 스캔 체인 배열 방법

임현열 ,  임재일 ,  박기현 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

A New Low Power Scan Architecture Considering Test Data Compression

Hong-Sik Kim ,  Beom Ik Cheon ,  Kyu-Myung Choi 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  신상훈 ,  박성주

정보과학회논문지(A)

1999 .09

배선 길이 최소화를 위한 그룹화된 스캔 체인 재구성 방법

이정환 ,  임종석

전자공학회논문지-SD

2002 .08

SoC 내의 효율적인 Test Wrapper 설계

정준모

한국산학기술학회 논문지

2009 .06

경계면 - 스캔 기저 구조를 위한 지연시험 ( Delay Test for Boundary - Scan based Architectures )

강병욱 ,  안광선

전자공학회논문지-A

1994 .06

기판 검사를 위한 다중 스캔 경로 제어기의 설계 및 구현

손우정 ,  윤태진 ,  이창희 외 1명

정보과학회논문지(C)

1996 .12

원형스캔 레이더 식별을 위한 스캔변수 추정기법

류영진 ,  하현주 ,  김환우

전자공학회논문지-SP

2006 .11

Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 테스트 패턴 인가 방식 ( An Efficient Test Pattern Application Method Using Boundary-Scan Architecture )

류근장 ,  이인학 ,  손윤식 외 6명

대한전자공학회 학술대회

1993 .01

이동식 로버 기반 스캔 자동화 계획에 대한 연구

강태욱

한국산학기술학회 논문지

2019 .08

순차깊이를 고려한 부분 스캔 설계 ( Partial Scan Design Considering The Sequential Depth )

진상헌 ,  임종석

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

저전력 움직임 추정을 위한 데이터 재사용 스캔 방법

김태선 ,  선우명훈

전자공학회논문지

2013 .09

스캔 분할 기법을 이용한 저전력 Test-Per-Scan BIST

문정욱 ,  손윤식 ,  정정화

대한전자공학회 학술대회

2003 .07