메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김해천 (Chung-Ang University) 이재성 (Chung-Ang University)
저널정보
한국컴퓨터정보학회 한국컴퓨터정보학회논문지 한국컴퓨터정보학회 논문지 제23권 제6호(통권 제171호)
발행연도
2018.6
수록면
1 - 7 (7page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
A multi-label classification is to find multiple labels associated with the input pattern. Multi-label classification can be achieved by extending conventional single-label classification. Common extension techniques are known as Binary relevance, Label powerset, and Classifier chains. However, most of the extended multi-label naive bayes classifier has not been able to accurately estimate posterior probabilities because it does not reflect the label dependency. And the remaining extended multi-label naive bayes classifier has a problem that it is unstable to estimate posterior probability according to the label selection order. To estimate posterior probability well, we propose a new posterior probability estimation method that reflects the probability between all labels and labels efficiently. The proposed method reflects the correlation between labels. And we have confirmed through experiments that the extended multi-label naive bayes classifier using the proposed method has higher accuracy then the existing multi-label naive bayes classifiers.

목차

Abstract
I. Introduction
II. Related Work
III. Proposed Method
IV. Experimental Results
V. Conclusions
REFERENCES

참고문헌 (27)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2018-004-003106179