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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
이종용 (한남대학교)
저널정보
한국진공학회(ASCT) Applied Science and Convergence Technology 한국진공학회지 제21권 제5호
발행연도
2012.9
수록면
225 - 232 (8page)

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이 논문의 연구 히스토리 (8)

2012

양전자 소멸 측정에 의한 n, p형 실리콘 구조 특성
이종용 Applied Science and Convergence Technology 2012.09 학술저널

2009

양전자소멸 방법으로 X선 조사에 의해 (Ba,Sr)FBr : Eu 형광 물질에 생성되는 결함 측정
이종용 ,  배석환 ,  김재홍 외 1명 한국진공학회 학술발표회초록집 2009.02 학술대회자료
양전자 소멸 측정법에 의한 형광물질의 결함 연구
이종용 ,  권준현 ,  배석환 한국재료학회 학술발표대회 2009.01 학술대회자료

2006

양전자 소멸 방법에 의한 Gd₂O₂S : Tb screens 결함 특성
이종용 ,  김재홍 ,  김석규 한국진공학회 학술발표회초록집 2006.02 학술대회자료
GdOS：Tb의 동시 계수 도플러 양전자 소멸법에 의한 결함 특성
이종용 ,  배석환 ,  김재홍 외 1명 한국재료학회지 2006.01 학술저널
양전자 소멸 측정법을 이용한 영상 형광체의 결함 연구
이종용 ,  김재홍 ,  전권수 한국재료학회 학술발표대회 2006.01 학술대회자료

2004

양전자 소멸 분광법을 이용한 Gd₂O₂S : Tb 결함 특성
이종용 ,  김창규 Applied Science and Convergence Technology 2004.06 학술저널

1996

양전자 소멸 분광에 의한 실리콘에서의 결함 측정
이종용 ,  박태성 ,  최선웅 외 1명 한국재료학회 학술발표대회 1996.01 학술대회자료

초록· 키워드

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수명 측정법과 동시 계수 도플러 넓어짐 양전자 소멸 분광법으로 p형과 n형 실리콘 시료에 3.98 MeV 에너지를 가진 0.0 ∼20.0×10<SUP>13</SUP> protons/cm<SUP>2</SUP> 양성자 빔 조사에 의한 결함을 측정하여 실리콘 결함 특성에 대하여 조사하였다. 양전자와 전자의 쌍소멸로 발생하는 감마선 스펙트럼의 전자 밀도 에너지를 수리적 해석 방법인 S-변수와 열린 부피 결함에 대한 측정법으로서 양전자 수명 τ₁과 τ₂, 이에 따른 밀도 I1과 I2를 사용하여, 시료의 구조 변화를 측정하였다. 본 연구에서 측정된 S-변수와 양전자 수명은 시료에 조사된 양성자 조사량의 변화에 따라 결함이 증가하였으며, 양전자 수명 측정과 같은 경향을 보여준다. SRIM의 결과로써, 양성자 조사 에너지에 따른 Bragg 피크 때문에 양성자는 시료의 특정 깊이에 주로 결함을 형성하여 시료 전체에는 결함으로 잘 나타나지 않기 때문이다. 빔의 조사량에 따른 결함의 영향이 더 큰 것으로 나타났다.
#양성자 조사 #S-변수 #양성자 수명 측정 #동시 계수 양전자 소멸 측정 #n, p형 실리콘 #Proton beam #S-parameter #Positron lifetime #Coincidence doppler broadening positron annihilation spectroscopy #n, p type Si

목차

I. 서론
II. 실험
III. 결과 및 고찰
IV. 결론
감사의 글
참고문헌

참고문헌 (21)

참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - 오데레사 / 2011 / 표면 거칠기와 분포 상태에 따른 Si-셀 효율에 관한 연구 / 한국진공학회지 20 (3) : 189 ~ 194 dbpia 2. [학술지(정기간행물)] - G. P. Willeke / 2002 / / Sol. Energ. Mater. Sol. Cell 72 : 191 ~ google schola 3. [학술지(정기간행물)] - 강병준 / 2010 / 태양전지용 실리콘 기판의 절삭손상 식각 조건에 의한 곡강도 변화 / 한국재료학회지 20 (11) : 617 ~ 622 dbpia 4. [학술지(정기간행물)] - 이경동 / 2012 / 결정질 실리콘 태양전지용 SiNx:H 박막 특성의 최적화 연구 / 한국진공학회지 21 (1) : 29 ~ 35 dbpia 5. [학술지(정기간행물)] - Chunqing He / 2007 / / Radiation Phys. and Chem 76 : 204 ~ google schola

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