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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제33권 제1호
발행연도
2020.1
수록면
78 - 82 (5page)

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본 논문에서는 Si 로 도핑되어 MBE 방식으로 성장된 β-Ga2O3 기판에 MOSFET 을 제작하여 특성을 평가하였다. 1.5 cm×1 cm 크기의 Fe 로 도핑된 반절연 기판에 MBE 방식으로 Si 가 도핑된 Ga2O3 에피층이 성장되어 졌으며 그 위에 제작된 소자는 원형의 MOSFET 으로써 게이트 길이는 3 um, 소스-드레인 간격은 20 um, 게이트 폭은 523 um 이다. 제작된 소자는 우수한 pinch-off 특성을 보여주었고 높은 전류 온-오프 비를 가지고 있고 1080 V 에 달하는 높은 파괴전압 특성을 나타내었으며 이는 Ga2O3 소자가 갖는 전력반도체로써의 우수한 잠재성을 보여준다

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