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논문 기본 정보

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학술대회자료
저자정보
엄태종 (인하대학교 재료공학부) 강승모 (인하대학교 재료공학부) 박현아 (인하대학교 재료공학부) 김상진 (인하대학교 재료공학부) 김현우 (인하대학교 재료공학부) 이종무 (인하대학교 재료공학부) 조중렬 (아주대학교 전자공학부) 김계령 (양성자기반 공학기술 개발사업단)
저널정보
한국재료학회 한국재료학회 학술발표대회 한국재료학회 2003년도 춘계학술발표강연 및 논문개요집
발행연도
2003.1
수록면
118 - 118 (1page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2004

전자 조사된 p+ - n- 접합 다이오드의 결함 특성과 전기적 성질
엄태종 ,  강승모 ,  김현우 외 3명 Applied Science and Convergence Technology 2004.03 학술저널

2003

전자 조사된 실리콘 $p^--n^-$ 접합 다이오드의 transient 거동
엄태종 ,  강승모 ,  박현아 외 5명 한국재료학회 학술발표대회 2003.01 학술대회자료

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전력반도체 소자로 사용되는 p$^{-}$-n$^{-}$ 접합 다이오드의 스위칭 속도를 향상시키고 그에 따른 에너지 손실을 감소시키기 위해 전자 조사를 실시하였다. Reverse recovery time이 현저히 감소한 반면, 전자 조사에 의한 누설전류와 on-state 전압 강하와 같은 그 외의 전기적 특성 저하는 무시할 수 있는 정도였다. 그밖에 시료의 deep level transient spectroscpy(DLTS) 분석 결과와 secondary ion mass spectrometry(SIMS) depth profile을 근거로 결함 분포와 전자조사 유도결함의 유형을 논하였다.

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