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공간 차원 기반의 wafer bin map 불량 패턴 분류체계 개발
대한산업공학회 추계학술대회 논문집
2020 .11
수동 추출 특성과 합성곱 특성을 결합한 웨이퍼 맵 불량 패턴 분류
한국정보과학회 학술발표논문집
2020 .07
비지도 사전학습 기반 액티브 러닝을 활용한 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 분류
대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집
2022 .06
반도체 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 분류 모델 개선을 위한 데이터 증강 및 가중치 기반 앙상블 기법 연구
대한전자공학회 학술대회
2024 .11
딥러닝을 이용한 웨이퍼 빈 맵 신규 패턴 탐지
대한산업공학회 추계학술대회 논문집
2019 .11
Wafer Bin Map 분류를 위한 성능 향상을 위한 데이터 증강 방법 연구
한국통신학회 학술대회논문집
2022 .06
웨이퍼 맵 패턴 분석을 위한 삼중항 손실 기반 비지도 표현 학습
한국정보과학회 학술발표논문집
2021 .06
웨이퍼 품질 분류를 위한 결함 맵 노이즈 제거 알고리즘 개발
한국생산제조학회 학술발표대회 논문집
2024 .12
웨이퍼 맵 패턴 분류를 위한 지도 대조학습
한국정보과학회 학술발표논문집
2022 .06
Wafer Map defects patterns classification using neural networks
대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집
2017 .04
Multi-class Data Description 기반의 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 분류 및 신규 불량 패턴 검출방법
대한산업공학회지
2022 .06
딥러닝을 이용한 웨이퍼 빈 맵 신규 패턴 검출
대한산업공학회지
2020 .06
Explainable wafer bin map classification via hierarchical attention networks
대한산업공학회 추계학술대회 논문집
2019 .11
설명가능한 AI를 통한 디노이징된 Wafer Bin Map 이미지 데이터 패턴 분류 및 원인 추론
대한기계학회 춘추학술대회
2022 .03
Wafer Bin Map 데이터 기반의 불량 탐지 및 시각화를 위한 Bin2Vec 기반의 합성곱 신경망 분류기
대한산업공학회 추계학술대회 논문집
2017 .11
Multi class data description 기반의 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 분류 및 신규 불량 패턴 검출방법
대한산업공학회 추계학술대회 논문집
2021 .11
데이터 정규화를 통한 웨이퍼 불량 검출 정확도 향상
한국정보과학회 학술발표논문집
2024 .06
Wafer Map Failure Pattern Classification using Geometrical Transformation Invariant Convolutional Neural Network
대한기계학회 춘추학술대회
2021 .04
합성곱 신경망을 이용한 웨이퍼 맵 기반 불량 탐지
대한산업공학회지
2018 .08
CAM과 Grad-CAM 기반의 불량 웨이퍼 bin map 분류 및 원인 지역 시각화 방법론
대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집
2018 .04
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