공간 차원 기반의 wafer bin map 불량 패턴 분류체계 개발

최승현 ,  김은수 ,  이동희 외 4명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2020 .11

수동 추출 특성과 합성곱 특성을 결합한 웨이퍼 맵 불량 패턴 분류

강현구 ,  강석호

한국정보과학회 학술발표논문집

2020 .07

비지도 사전학습 기반 액티브 러닝을 활용한 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 분류

황성진 ,  김성범

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2022 .06

반도체 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 분류 모델 개선을 위한 데이터 증강 및 가중치 기반 앙상블 기법 연구

문영대 ,  정규단 ,  권정연 외 10명

대한전자공학회 학술대회

2024 .11

딥러닝을 이용한 웨이퍼 빈 맵 신규 패턴 탐지

백승호 ,  김성범

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2019 .11

Wafer Bin Map 분류를 위한 성능 향상을 위한 데이터 증강 방법 연구

박상우 ,  유철우

한국통신학회 학술대회논문집

2022 .06

웨이퍼 맵 패턴 분석을 위한 삼중항 손실 기반 비지도 표현 학습

강현구 ,  강석호

한국정보과학회 학술발표논문집

2021 .06

웨이퍼 품질 분류를 위한 결함 맵 노이즈 제거 알고리즘 개발

이석희 ,  이상원

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2024 .12

웨이퍼 맵 패턴 분류를 위한 지도 대조학습

배영재 ,  강석호

한국정보과학회 학술발표논문집

2022 .06

Wafer Map defects patterns classification using neural networks

김희영 ,  경기룡

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2017 .04

Multi-class Data Description 기반의 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 분류 및 신규 불량 패턴 검출방법

송창용 ,  정영선 ,  김병훈

대한산업공학회지

2022 .06

딥러닝을 이용한 웨이퍼 빈 맵 신규 패턴 검출

백승호 ,  이창현 ,  김성범

대한산업공학회지

2020 .06

Explainable wafer bin map classification via hierarchical attention networks

이창현 ,  도형록 ,  김성범

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2019 .11

설명가능한 AI를 통한 디노이징된 Wafer Bin Map 이미지 데이터 패턴 분류 및 원인 추론

장승준 ,  배석주

대한기계학회 춘추학술대회

2022 .03

Wafer Bin Map 데이터 기반의 불량 탐지 및 시각화를 위한 Bin2Vec 기반의 합성곱 신경망 분류기

김준홍 ,  김형석 ,  박재선 외 2명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2017 .11

Multi class data description 기반의 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 분류 및 신규 불량 패턴 검출방법

송창용 ,  정영선 ,  김병훈

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2021 .11

데이터 정규화를 통한 웨이퍼 불량 검출 정확도 향상

고병찬 ,  김도영 ,  김화정

한국정보과학회 학술발표논문집

2024 .06

Wafer Map Failure Pattern Classification using Geometrical Transformation Invariant Convolutional Neural Network

Il Joo Jeong ,  Seungchul Lee

대한기계학회 춘추학술대회

2021 .04

합성곱 신경망을 이용한 웨이퍼 맵 기반 불량 탐지

박재선 ,  김준홍 ,  김형석 외 2명

대한산업공학회지

2018 .08

CAM과 Grad-CAM 기반의 불량 웨이퍼 bin map 분류 및 원인 지역 시각화 방법론

Junhong Kim ,  Jaesun Pa ,  k 외 4명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2018 .04