Wafer Bin Map 분류를 위한 성능 향상을 위한 데이터 증강 방법 연구

박상우 ,  유철우

한국통신학회 학술대회논문집

2022 .06

설명가능한 AI를 통한 디노이징된 Wafer Bin Map 이미지 데이터 패턴 분류 및 원인 추론

장승준 ,  배석주

대한기계학회 춘추학술대회

2022 .03

공간 차원 기반의 wafer bin map 불량 패턴 분류체계 개발

최승현 ,  김은수 ,  이동희 외 4명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2020 .11

Wafer Map defects patterns classification using neural networks

김희영 ,  경기룡

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2017 .04

Wafer Bin Map 데이터 기반의 불량 탐지 및 시각화를 위한 Bin2Vec 기반의 합성곱 신경망 분류기

김준홍 ,  김형석 ,  박재선 외 2명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2017 .11

Hierarchical Feedforward Attention Network for Explainable Multi-sensor Signal Data Analysis

이지윤 ,  도형록 ,  강현구 외 2명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2019 .11

합성곱 신경망을 이용한 웨이퍼 맵 기반 불량 탐지

박재선 ,  김준홍 ,  김형석 외 2명

대한산업공학회지

2018 .08

Go To Bin Project

이준협 ,  최동명 ,  김혁기 외 3명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2015 .11

딥러닝을 이용한 웨이퍼 빈 맵 신규 패턴 탐지

백승호 ,  김성범

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2019 .11

시계열 신호 기반의 상태 진단을 위한 설명 가능한 인공지능: 시간-주파수 영역 시각화를 위한 모델 및 인터페이스

김민수 ,  이민호 ,  박부견

대한전자공학회 학술대회

2021 .11

반도체 공정에서의 Wafer Map Image 분석 방법론

유영지 ,  안대웅 ,  박승환 외 1명

대한산업공학회지

2015 .06

비지도 사전학습 기반 액티브 러닝을 활용한 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 분류

황성진 ,  김성범

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2022 .06

웨이퍼 품질 분류를 위한 결함 맵 노이즈 제거 알고리즘 개발

이석희 ,  이상원

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2024 .12

DCM: 단안 카메라를 이용한 싱글 이미지에서 정교한 깊이 추정을 위한 Bins 최적화 모듈

이창엽 ,  김동주 ,  서영주 외 1명

전자공학회논문지

2024 .10

회전 합 이미지 특질 결합 방법론을 활용한 웨이퍼 맵 불량 패턴 분류

변윤선 ,  백준걸

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2020 .11

설명 가능한 인공지능의 국내외 연구동향 분석

염찬욱 ,  곽근창

Proceedings of KIIT Conference

2019 .06

Convolutional autoencoder와 Isolation forest 기법을 활용한 장-단기 Wafer Bin Map 이상치 탐지 모니터링 시스템

김준홍 ,  김동화 ,  손규빈 외 1명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2018 .11

불확실성 인지 주의집중 메카니즘 기반 설명가능 인공지능

허자욱 ,  이해범 ,  박준현 외 3명

정보과학회지

2019 .07

BIN 데이터 기반의 냉난방 시스템 용량 설계에 관한 연구

강은철 ,  이광섭 ,  이의준

대한기계학회 춘추학술대회

2017 .05

CAM과 Grad-CAM 기반의 불량 웨이퍼 bin map 분류 및 원인 지역 시각화 방법론

Junhong Kim ,  Jaesun Pa ,  k 외 4명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2018 .04