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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김용관 (강한이노시스) 이인환 (충북대학교)
저널정보
한국기계가공학회 한국기계가공학회지 한국기계가공학회지 제20권 제10호
발행연도
2021.10
수록면
112 - 118 (7page)

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In this study, an inspection method using a color image is proposed to conduct a real-time inspection of covalent organic framework (COF) films to detect defects, if any. The COF film consists of an upper pattern SR and a lower PI. The proposed system detects the defects of more than 20 μm on the SR surface owing to the characteristics of the pattern, whereas on the PI surface, it detects defects of more than 4 μm by utilizing a micro-optical system. In the existing system, it is difficult for the operator to conduct a full inspection through a high-performance microscope. The proposed inspection algorithm performs the inspection by separating each color component using the color contrast of the pattern on the SR side, and on the PI surface it inspects the bonding state of the mounted chip. As a result, it is possible to confirm the exact location of the defects through the SR and PI surface inspections in the implemented inspection.
#COF(칩 온 필름) #Flatness(평탄도) #Field of View(시야각) #PI(폴리이미드) #SR(솔더 레지스트)

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. 검사 장치
3. 카메라 분해능
4. 결함 검사 및 결과
5. 결론
REFERENCES

참고문헌 (5)

참고문헌 신청
Lee, J. H. / 2013 / Study of optical vision measurement algorithm for micro hole array / Proceeding of the KSMPE Autumn Conference :155 google schola 이상원 / 2012 / 차영상을 이용한 실시간 TCP/COF 검사 시스템 개발 / 한국지능시스템학회 논문지 22(1):87~93 dbpia 김현종 / 2004 / 효율적인 이미지 분할을 위한 RGB 채널 선택 기법 / 정보과학회논문지 : 소프트웨어 및 응용 31(10):1332~1344 dbpia 양순철 / 2010 / 초정밀 열 영상 현미경 광학계 개발 / 한국정밀공학회지 27(12):15~21 dbpia Kim, Y. S. / 2007 / Defects detection of TCP/COF using real-time line-scanner / CICS 2007 :153~154 google schola

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