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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
I. H. Ahn (Dongguk University) H. Y. Hwang (Gwangju Institute of Science and Technology) Y. D. Jho (Gwangju Institute of Science and Technology)
저널정보
한국물리학회 새물리 새물리 제72권 제2호
발행연도
2022.2
수록면
90 - 95 (6page)

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In this paper, we investigated a subband-specific relationship between electron mobility and photoluminescence (PL) intensity in a modulation-doped In<SUB>0.53</SUB>Ga<SUB>0.47</SUB>As/In<SUB>0.52</SUB>Al<SUB>0.48</SUB>As heterostructure. From the steady-state diffusion model, the temperature-dependent mobility variation was anticipated to be inversely proportional to the PL intensity under lateral diffusion. The subband-mobility ratio fits best with the inverse ratio of the subband-specific PL intensity, especially in the high-temperature region (≥100 K), where the carrier mobility is less influenced by carrier localization using alloy disorder. Furthermore, the localization effects were manifested by an abrupt increase in PL decay time at the vicinity of electron de-trapping temperature, which coincides with abrupt changes in thermally stimulated capacitance.

목차

I. Introduction
II. Experimental Schemes
III. Conclusions
REFERENCES

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