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저자정보
박춘길 (인하대학교 신소재공학과) 강동균 (인하대학교 신소재공학과) 이승희 (인하대학교) 공영민 (울산대학교) 정대용 (인하대학교)
저널정보
한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제30권 제9호
발행연도
2017.9
수록면
541 - 545 (5page)
DOI
https://doi.org/10.4313/JKEM.2017.30.9.541

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PZT [Pb (Zr0.52Ti0.48) O3]의 위상 변화와 전기적 특성을 조사하기 위해 두께 방향으로 5-10㎛의 두께를 갖는 필름을 에어로졸 증착법으로 제작 하였다. PZT AD 필름은 실온에서 결정 성이 낮고 치밀한 구조를 지닌 나노 크기의 입자를 나타 냈습니다. As-deposited AD는 정방 정계와 능 면체 정계의 두상의 혼합물을 보여 주었다. 어닐링 온도를 제어하여 상전이 거동을 조절합니다. 결정 성 AD PZT 후막은 450, 550 및 650 ℃에서 2 시간 동안 어닐링함으로써 향상되었다. AD PZT 막을 650 ℃에서 열처리 하였을 때, 정방 정계와 능 면체 정계가 반응하여 두 상간에 중간상이 형성되었다. (P-E) 히스테리시스 루프는 650 ℃에서 어닐링 된 AD 필름이 낮은 항정계와 작은 이력곡선을 나타내었다.

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