디지탈 CMOS VLSI의 범용 Test Set 분할 생성 알고리듬 ( Divided Generation Algorithm of Universal Test Set for Digital CMOS VLSI )

김동욱

전자공학회논문지-A

1993 .11

CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )

정준모 ,  장원학 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1988 .11

CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Circuits )

조상복 ,  임인칠

전자공학회지

1984 .11

CMOS 테스트를 위한 Built-In Self-Test 회로 설계 ( A Built-In Self-Test Method for CMOS Circuits )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1992 .09

CMOS회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

CMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘 ( A New Test Generation Algorithm for Detection of Faults in CMOS Circuits )

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성

권중석 ,  이인학 ,  손윤식 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성 ( Mixed-level Test Generation for CMOS Circuits using Path Algebra )

권중석 ,  이인학 ,  손윤식 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

연결 그래프를 이용한 CMOS 논리회로의 테스트 생성 알고리즘 ( Test Generation Algorithm for CMOS Logic Circuits Using Connection Graph )

조상복 ,  신용철 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

고해상도 CMOS A/D 변환기를 위한 디지탈 교정 및 보정 회로 설계

조준호 ,  이승훈

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

Multi-Valued Logic Based on CMOS Technology

Kyung Rok Kim ,  Sunhae Shin ,  Esan Jang 외 1명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2015 .06

CMOS 최적 회로 합성기 연구 ( An Optimized Sizing Program for CMOS Circuits )

장영조 ,  이철동

특정연구 결과 발표회 논문집

1989 .01

CMOS 최적 회로 합성기 연구 ( An Optimized Sizing Program for CMOS Circuits )

장영조 ,  이철동

한국통신학회 학술대회논문집

1989 .01

A New Delay Model for Large Digital CMOS Circuits

Dong Wook Kim ,  Won Il Cho ,  Byung Kweon Jung

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

저전력 CMOS 기준전류 발생회로

김유환 ,  권덕기 ,  이종렬 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2001 .06

CMOS 회로 합성기에 대한 연구 ( Research on Circuit Synthesizer in CMOS )

장영조 ,  이철동 ,  유영욱

한국통신학회 학술대회논문집

1987 .01

Time-skews를 고려한 CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘

이철원 ,  한석붕 ,  김윤홍 외 3명

대한전기학회 학술대회 논문집

1987 .07

Time-skews를 고려한 CMOS회로의 테스트 생성 알고리즘 ( Test Generation Algorithm for CMOS Circuits Considering Time-skews )

이철원 ,  한석붕 ,  김윤홍 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1987 .07

저전력 CMOS 기준전압 발생 회로 ( A Low-Power CMOS Voltage Reference Circuit )

권덕기 ,  오원석 ,  김동환 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

완전 자체 검증 CMOS 회로 설계

김정범 ,  홍성제 ,  김종

대한전자공학회 학술대회

1994 .11