디지탈 CMOS회로의 Multi-Level Test를 위한 범용 Test Set 생성 ( Universal Test Set Generation for Multi-Level Test of Digital CMOS Circuits )

김동욱

전자공학회논문지-A

1993 .02

Elements of CMOS VLSI System Design

Sung Mo Kang

대한전자공학회 워크샵

1985 .01

CMOS VLSI 회로에서 논리추출을 위한 효율적인 알고리즘 ( An Efficient Logic Extraction Algorithm for CMOS VLSI Circuits )

정자춘 ,  강민섭 ,  이철동 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1988 .01

CMOS 기술을 이용한 신경회로망의 VLSI 구현 ( VLSI Implementation of Neural Networks Using CMOS Technology )

정호선

전자공학회논문지

1990 .03

CMOS VLSI의 전류 테스팅을 위한 자동 테스트 패턴 생성기의 구현

류진수 ,  이효상 ,  송근호 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

CMOS VLSI의 전류 테스팅을 위한 자동테스트 패턴 생성기의 구현 ( Implementation of Automatic Test Pattern Generator for Current Testing In CMOS VLSI )

류진수 ,  이효상 ,  송근호 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

Fast and Accurate Delay Estimation for Digital CMOS VLSI

Dong-Wook Kim ,  Tae-Yong Choi ,  Byoung-Kwon Jung

Journal of Electrical Engineering and information Science

1998 .08

VLSI Design of HAS-160 Algorithm

Ju Dai Hyun ,  Byeong Yoon Choi

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2003 .07

3μm CMOS VLSI IMPLEMENTATION OF DIGITAL ELLIPTIC FILTERS

H. Y. Kim ,  T. H. Kim ,  J. I. Lee 외 1명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

VLSI Design

경종민

대한전자공학회 단기강좌

1983 .01

VLSI의 신뢰성 ( Reliability Issues in VLSI )

이귀로

대한전자공학회 학술대회

1987 .05

디지탈 신호처리를 위한 VLSI 기술

이문기

전자공학회지

1988 .04

VLSI 네트워크의 다중 분할에 관한 연구 ( A Multiple-Way Partitioning Algorithm for VLSI Network )

김경식 ,  전주식 ,  황희융 외 1명

특정연구 결과 발표회 논문집

1989 .01

디지탈 신호처리를 위한 VLSI 구조

경종민

대한전자공학회 단기강좌

1988 .01

Discrete 다층퍼셉트론 모델의 학습 방법 및 Cmos VLSI회로 구현 ( Discrete MLP Training Algorithm & Cmos VLSI Implementation )

이경훈 ,  정호선

대한전자공학회 학술대회

1991 .07

Discrete 다층퍼셉트론 모델의 학습 방법 및 CMOS VLSI 회로 구현

이경훈 ,  정호선

대한전자공학회 학술대회

1991 .06

블록 정합 알고리듬의 효율적인 VLSI설계 ( An Efficient VLSI Implementation for Block Image Algorithm )

강용관 ,  김동욱 ,  최종수

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

VLSI화를 위한 CMOS OP AMP의 LAYOUT ( CMOS OP AMP Layout for VLSI )

조성익 ,  김석호 ,  권오신 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1988 .01

임계경로 추적을 이용한 VLSI회로의 지연 테스트 생성 알고리듬 ( A Delay Test Generation Algorithm for VLSI Circuits using the Critical Path Tracing )

박준 ,  이병양 ,  이인학 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

VLSI설계와 CAD기술개발

오길록

전자진흥

1985 .01