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이용수
요약
1. 서론
2. G-ATPG의 고장 모델
3. G-ATPG의 구성
4. G-ATPG의 테스트 패턴 생성
5. 실험 및 결과
6. 결론
참고문헌
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CMOS VLSI의 전류 테스팅을 위한 자동테스트 패턴 생성기의 구현 ( Implementation of Automatic Test Pattern Generator for Current Testing In CMOS VLSI )
대한전자공학회 학술대회
1995 .07
Elements of CMOS VLSI System Design
대한전자공학회 워크샵
1985 .01
CMOS VLSI의 효율적인 IDDQ 테스트 생성을 위한 패턴 생성기의 구현 ( Implementation of Pattern Generator for Efficient IDDQ Test Generation in CMOS VLSI )
전자공학회논문지-SD
2001 .04
CMOS 기술을 이용한 신경회로망의 VLSI 구현 ( VLSI Implementation of Neural Networks Using CMOS Technology )
전자공학회논문지
1990 .03
CMOS 회로의 전류 테스팅를 위한 내장형 전류감지기 설계 ( Design of a Built-in Current Sensor for Current Testing Method in CMOS VLSI )
전자공학회논문지-B
1995 .11
CMOS VLSI 회로에서 논리추출을 위한 효율적인 알고리즘 ( An Efficient Logic Extraction Algorithm for CMOS VLSI Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1988 .01
디지탈 CMOS VLSI의 범용 Test Set 분할 생성 알고리듬 ( Divided Generation Algorithm of Universal Test Set for Digital CMOS VLSI )
전자공학회논문지-A
1993 .11
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대한전자공학회 학술대회
1996 .01
내장 전류계를 이용한 CMOS 회로의 전류 테스팅 ( VLSI Current Testing Using Built-In Current Sensor )
대한전자공학회 학술대회
1994 .11
내장 전류계를 이용한 CMOS 회로의 전류 테스팅
대한전자공학회 학술대회
1994 .11
VLSI 테스팅의 기술 동향
전자공학회지
1998 .11
테스트 패턴 생성이 용이한 VLSI 논리 설계 방식 ( A VLSI Logic Design Structure for Reduction of Test pattern Generation Effort )
대한전자공학회 학술대회
1985 .01
3μm CMOS VLSI IMPLEMENTATION OF DIGITAL ELLIPTIC FILTERS
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1989 .01
CMOS 집적회로 테스팅을 위한 내장형 전류 감지 회로 설계
전기전자학회논문지
2005 .07
VLSI 설계 자동화에 대한 연구
제어로봇시스템학회 국내학술대회 논문집
1986 .10
VLSI Design
대한전자공학회 단기강좌
1983 .01
Discrete 다층퍼셉트론 모델의 학습 방법 및 Cmos VLSI회로 구현 ( Discrete MLP Training Algorithm & Cmos VLSI Implementation )
대한전자공학회 학술대회
1991 .07
Discrete 다층퍼셉트론 모델의 학습 방법 및 CMOS VLSI 회로 구현
대한전자공학회 학술대회
1991 .06
VLSI 자동설계기술 ( Design Automation for VLSI )
대한전자공학회 학술대회
1987 .01
VLSI의 신뢰성 ( Reliability Issues in VLSI )
대한전자공학회 학술대회
1987 .05
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