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내장된 자체 테스트를 위한 경계 주사 회로의 구현
한국정보과학회 학술발표논문집
1999 .04
내장된 자체 테스트 기법을 이용한 다중 클락 회로 테스트 방법론
대한전자공학회 기타 간행물
2001 .11
Boundary - Scan 방식을 이용한 인쇄회로기판 테스트
한국정보과학회 학술발표논문집
1992 .10
내장 자가 검사 회로의 설계
대한전자공학회 학술대회
1999 .06
부동소수점 DSP core의 내장된 자체 테스트 회로 구현
한국정보과학회 학술발표논문집
1999 .04
내장된 자체 테스트에서 경로 지연 고장 테스트를 위한 새로운 가중치 계산 알고리듬 ( New Weight Generation Algorithm for Path Delay Fault Test Using BIST )
전자공학회논문지-SD
2000 .06
IEEE 1149.1을 이용한 내장된 자체 테스트 기법의 구현 ( Implementation of Built-In Self Test Using IEEE 1149.1 )
한국통신학회논문지
2000 .12
경계 주사 환경에서의 상호연결 테스트 방법론에 대한 연구
대한전기학회 학술대회 논문집
1998 .11
제어 회로를 위한 효율적인 비주사 DFT 기법
전자공학회논문지-SD
2003 .11
RTL수준의 데이터패스 모듈을 위한 상위 수준 테스트 합성 기법
한국정보과학회 학술발표논문집
2000 .10
패턴 집단 생성 방식을 사용한 내장형 자체 테스트 기법
전자공학회논문지-SD
2002 .07
병렬 테스트방법을 적용한 고집적 SRAM을 위한 내장된 자체 테스트 기법 ( Built-In Self Test for High Density SRAMs Using Parallel Test Methodology )
전자공학회논문지-C
1998 .08
테스트 포인트 삽입에 의한 내장형 자체 테스트 구현 ( BIST implementation with test points insertion )
대한전자공학회 학술대회
1998 .11
분기기법을 이용한 테스트 경로선택 알고리즘에 관한 연구 ( A Study on the Test Path Selection Algorithm Using Branch Techniques )
대한전자공학회 학술대회
1991 .01
내장된 자체 테스트 기법을 이용한 이웃 패턴 감응 고장 진단
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
내장된 자체 테스트 기법을 이용한 이웃 패턴 감응 고장 진단 ( Neighborhood Pattern Sensitive Fault Diagnosis Using Built - In Self Test )
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
경계 주사 아키텍처를 이용한 지연 고장 테스트 기법 ( Delay Fault Testing Techniques Using Boundary - Scan Architecture )
전자공학회논문지-A
1994 .11
내장형 자체 테스트 패턴 생성을 위한 하드웨어 오버헤드 축소
전자공학회논문지-SD
2003 .07
기계적 강도 향상을 위한 듀얼 레이저 주사 경로 생성
대한기계학회 춘추학술대회
2005 .11
CMOS 테스트를 위한 Built-In Self-Test 회로 설계 ( A Built-In Self-Test Method for CMOS Circuits )
전자공학회논문지-B
1992 .09
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