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경계주사가 적용된 보드상에서의 고장모델 및 그 진단기법
한국통신학회 학술대회논문집
1999 .11
경계 주사 환경에서의 상호연결 테스트 방법론에 대한 연구
대한전기학회 학술대회 논문집
1998 .11
An Efficient Delay Test Method Using Boundary-Scan Architecture
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1993 .01
경계면 - 스캔 기저 구조를 위한 지연시험 ( Delay Test for Boundary - Scan based Architectures )
전자공학회논문지-A
1994 .06
Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 지연테스트기법 설계
한국정보과학회 학술발표논문집
1993 .10
고속 고장 진단을 위해 고장 후보 정렬과 테스트 패턴 정렬을 이용한 고장 탈락 방법
전자공학회논문지-SD
2009 .03
Boundary Scan Architecture를 이용한 회로기판 내의 연결선 고장진단에 관한 연구
전기학회논문지
1997 .11
순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조
전자공학회논문지-SD
2000 .11
지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 바운다리 스캔 설계 ( A New IEEE 1149.1 Boundary Scan Design for the Detection of Delay Faults )
대한전자공학회 학술대회
1998 .07
지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 바운다리 스캔 설계
대한전자공학회 학술대회
1998 .06
지연고장 탐지를 위한 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계
정보과학회논문지(A)
1999 .08
지연 고장 테스팅에 대한 고장 검출율 메트릭 ( Fault Coverage Metric for Delay Fault Testing )
전자공학회논문지-SD
2001 .04
Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 테스트 패턴 인가 방식 ( An Efficient Test Pattern Application Method Using Boundary-Scan Architecture )
대한전자공학회 학술대회
1993 .01
순차 회로의 지연 고장 검출을 위한 새로운 스캔 설계
전기학회논문지 A
1999 .09
지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 Boundary Scan 설계 및 패턴 생성
한국정보과학회 학술발표논문집
1998 .10
내장된 자체 테스트에서 경로 지연 고장 테스트를 위한 새로운 가중치 계산 알고리듬 ( New Weight Generation Algorithm for Path Delay Fault Test Using BIST )
전자공학회논문지-SD
2000 .06
천이 지연 고장 테스트를 위한 개선된 IEEE 1500 래퍼 셀 및 인터페이스 회로 설계
전자공학회논문지-SD
2007 .11
새로운 논리값을 사용한 주사 환경을 위한 경로 지연 검사 입력 생성기에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
새로운 논리값을 사용한 주사 환경을 위한 경로 지연 검사 입력 생성기에 관한 연구 ( An Efficient Path-Delay Fault Test Generator Using New Logic Values for Scan Design Environments )
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
독립고장과 양립 가능한 고장을 이용한 효율적인 테스트 패턴 압축 기법 ( An Efficient Algorithm for Test Pattern Compaction using Independent Faults and Compatible Faults )
전자공학회논문지-SD
2001 .02
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