A Simulation of Fowler-Nordheim Tunneling Current with Trapped Charge in Thin Gate MOS Structures

吳石柱

전기학회논문지

1989 .03

박막 MOS 구조내의 깊은 공핍층 Mode에 의한 Fowler-Nordheim 1-Vg and C-V 특성 ( Fowler-Nordheim I-Vg and C-V Characteristics Due to Deep Depletion Mode in Thin Gate-Oxide MOS Structures )

오석주

대한전자공학회 학술대회

1989 .01

Charge Trapping and Device Degradation Induced by Fowler-Nordheim Stress in Ultrathin Gate Oxide MOSFETs

Kyung Ho Lee ,  Jun Hee Lim ,  Young Gwan Kim

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Effect of Silicon Wafer Surface Orientation on Gate Oxide Degradation during Constant Current Fowler-Nordheim Stress at Low Electron Fluence

Piyas Samanta ,  C. K. Sa ,  ka

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

直流 電壓에 의한 微小 眞空갭의 前驅放電 電界放出

김정달 ,  이세훈

조명·전기설비

1997 .04

STS 기판 위에서 성장한 탄소나노튜브의 전계방출특성평가

방윤영 ,  장원석

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2007 .06

Fowler-Nordheim 스트레스에 의한 MOS 문턱전압 이동현상을 응용한 비교기 옵셋 제거방법

정인영

전자공학회논문지-SD

2009 .03

Wet 게이트 산화막과 Nitride 산화막 소자의 특성에 관한 연구

이용희 ,  최영규 ,  류기한 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1999 .06

Trailing Edge Flap Track 개념 설계를 위한 Kinematic Analysis

최종민 ,  박영민 ,  정진덕

한국항공우주학회 학술발표회 초록집

2013 .04

$N_2O$ 분위기에서 열산화법으로 성장시킨 $SiO_2$초박막의 전기적 특성

강석봉 ,  김선우 ,  변정수 외 1명

한국재료학회지

1994 .01

도핑한 산화막 및 질화막의 확산특성 ( Diffusion Characterization of Doped Oxide and Nitride Film )

이종덕 ,  김원찬 ,  민홍식 외 1명

전자공학회지

1985 .03

Well aligned carbon nanotubes grown on a large area Si substrate by thermal CVD

Lee ,  Cheol-Jin ,  Pa 외 21명

한국정보디스플레이학회 학술대회

2000 .01

질소 주입에 따른 게이트 산화막의 특성에 미치는 영향

정승주 ,  곽계달

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .07

유한요소법과 전계-열전자 방출 모델에 의한 절연유체 내 공간전하 전파해석

이호영 ,  이세희

전기학회논문지

2009 .10

SANOS 메모라 셀 트랜지스터의 다른 Charge Trapping layer에 따른 전기적 특성 및 신뢰성 분석

박성수 ,  주한수 ,  최원호 외 6명

대한전자공학회 학술대회

2007 .07

FN-tunneling-current Modeling in a Recessed-channel Structure

Young Kwon Kim ,  Taesik Pa ,  k 외 7명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2017 .10

재산화된 질화 산화막을 게이트 절연막으로 사용한 MOSFET의 특성 ( The Characteristics of MOSFET with Reoxidized Nitrided Oxide Gate Dielectrics )

양광선 ,  박훈수 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1991 .09

비대칭 DGMOSFET의 상하단 산화막 두께비에 따른 터널링 전류 분석

정학기

한국정보통신학회논문지

2016 .05

저전압 Floating Gate 형 메모리 IP

이경수 ,  이원지 ,  송정현 외 3명

대한전자공학회 학술대회

2008 .05

DRAM 비트라인 감지증폭기의 옵셋보정

정인영

대한전자공학회 학술대회

2008 .05