CMOS VLSI의 효율적인 IDDQ 테스트 생성을 위한 패턴 생성기의 구현 ( Implementation of Pattern Generator for Efficient IDDQ Test Generation in CMOS VLSI )

배성환 ,  김관웅 ,  전병실

전자공학회논문지-SD

2001 .04

CMOS VLSI의 IDDQ 테스팅을 위한 테스트 세트 간략화에 관한 연구 ( A Study on Test Set Compaction for IDDQ Testing in CMOS VLSI )

송근호 ,  이한민 ,  김강철 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1996 .01

IDDQ 테스트 방식을 이용한 CMOS 논리회로의 고장분석에 관한 연구 ( A Study on the Fault Analysis of CMOS LOGIC Circuit using IDDQ Testing Technique )

한석붕

전자공학회논문지-B

1994 .09

CMOS 조합회로의 IDDQ 테스트패턴 생성

김강철 ,  송근호 ,  한석붕

한국정보통신학회논문지

1999 .03

CMOS VLSI의 IDDQ 테스팅을 위한 ATPG 구현 ( Implementation of ATPG for IDDQ Testing in CMOS VLSI )

김강철 ,  류진수 ,  한석붕

전자공학회논문지-A

1996 .03

전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS회로의 고장 검출 및 위치 결정 ( Fault Detection and Location of CMOS circuits using Current Testing Techniques )

이재웅 ,  안철회 ,  이광훈 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS 회로의 고장 검출 및 위치 결정

이재웅 ,  안철희 ,  이광훈 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

VLSI Testing for High Reliability : Mixing IDDQ and Logic Testing

S. Hwang ,  R. Rajsuman

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Elements of CMOS VLSI System Design

Sung Mo Kang

대한전자공학회 워크샵

1985 .01

CMOS VLSI 회로에서 논리추출을 위한 효율적인 알고리즘 ( An Efficient Logic Extraction Algorithm for CMOS VLSI Circuits )

정자춘 ,  강민섭 ,  이철동 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1988 .01

CMOS VLSI에서 트랜지스터 합선 고장을 위한 효율적인 등가 고장 중첩 알고리즘

배성환

전자공학회논문지-SD

2003 .12

CMOS 기술을 이용한 신경회로망의 VLSI 구현 ( VLSI Implementation of Neural Networks Using CMOS Technology )

정호선

전자공학회논문지

1990 .03

전류 테스팅 기법을 사용한 CMOS IC의 고장 분석

한석봉 ,  김영일 ,  이건기 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )

정준모 ,  장원학 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1988 .11

CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Circuits )

조상복 ,  임인칠

전자공학회지

1984 .11

메모리의 IDDQ 테스트를 위한 내장전류감지 회로의 설계

문홍진 ,  배성환

한국음향학회지

1999 .01

CMOS 회로의 ESD에 대한 신뢰성 문제 및 보호대책 ( Reliability Analysis of CMOS Circuits on Electrostatic Discharge )

홍성모 ,  원태영

전자공학회논문지-A

1993 .12

CMOS 테스트를 위한 Built-In Self-Test 회로 설계 ( A Built-In Self-Test Method for CMOS Circuits )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1992 .09

VLSI TESTING FOR HIGH RELIABILITY : MIXING IDDQ AND LOGIC TESTING

황선태

대한전자공학회 토론회

1995 .01

VLSI TESTING FOR HIGH RELIABILITY : MIXING IDDQ AND LOGIC TESTING

SUNTAE HWANG

대한전자공학회 학술대회

1995 .07