회로 분할에 의한 순차회로의 테스트생성 ( Test Generation for Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용

전자공학회논문지-C

1998 .04

VLSI 회로의 테스트 패턴 생성 기술

박은세

전자공학회지

1995 .12

회로 분할에 의한 대규모 순차회로의 테스트 생성 ( Test Generation for large Scale Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용 ,  정용군

한국통신학회 학술대회논문집

1997 .01

VLSI 회로 테스트 자동 생성 시스템

박은세

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

부동소수점 DSP core의 내장된 자체 테스트 회로 구현

진명구 ,  장훈

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

순차 회로를 위한 효율적인 지연 고장 테스트 알고리듬

허경희 ,  강용석 ,  강성호

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .11

상위 수준 기술로부터 순차 회로의 자동 생성 ( FSM Synthesis from High-Level Descriptions )

황선영 ,  유진수

전자공학회논문지

1990 .12

Test-per-clock 스캔 방식을 위한 효율적인 테스트 데이터 압축 기법에 관한 연구

박재흥 ,  양선웅 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2002 .09

디스플레이 테스트를 위한 패턴 생성 회로 설계

조경연

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

단일 정현파 신호를 이용한 CMOS 연산 중폭기의 새로운 테스트 기법

한석봉 ,  윤원효 ,  김윤도 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1998 .10

테스트 에이전트 시스템 설계

최정은 ,  최병주

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

9 - valued 함수를 사용한 순서회로 테스트 생성에 관한 연구

백덕화 ,  고일석

한국정보과학회 학술발표논문집

1996 .10

15V 논리를 이용한 비동기 회로 시험패턴생성

김도형 ,  홍성제

한국정보과학회 학술발표논문집

1993 .10

내장된 자체 테스트를 위한 경계 주사 회로의 구현

양선웅 ,  장훈

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

구조분석과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .10

내장된 자체 테스트 기법을 이용한 다중 클락 회로 테스트 방법론

서일석 ,  강용석 ,  강성호

대한전자공학회 기타 간행물

2001 .11

안드로이드 애플리케이션 GUI 테스팅을 위한 테스트 케이스 및 테스트 드라이버 자동 생성

윤상필 ,  고민혁 ,  국승학 외 1명

한국정보과학회 학술발표논문집

2011 .11

패킷 필터링 보안 정책을 테스트하기 위한 테스트 베드 구축

국승학 ,  김현수

한국정보과학회 학술발표논문집

2006 .06

패킷 필터링 기능 테스트를 위한 테스트 도구 개발

김현수 ,  박영대 ,  국승학

정보과학회논문지 : 컴퓨팅의 실제 및 레터

2007 .04

CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )

정준모 ,  장원학 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1988 .11