회로 분할에 의한 순차회로의 테스트생성 ( Test Generation for Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용

전자공학회논문지-C

1998 .04

회로 분할에 의한 대규모 순차회로의 테스트 생성 ( Test Generation for large Scale Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용 ,  정용군

한국통신학회 학술대회논문집

1997 .01

순차회로의 테스트생성 기술

최호용

전자공학회지

1998 .11

VLSI 회로 테스트 자동 생성 시스템

박은세

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

VLSI 회로의 테스트 패턴 생성 기술

박은세

전자공학회지

1995 .12

Built-In Self Test 방식에 의한 순서회로의 설계 ( Design of Sequential Circuit Using Built-In Self Test Method )

노승용 ,  임인칠

전자공학회논문지

1987 .09

디스플레이 테스트를 위한 패턴 생성 회로 설계

조경연

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

동기식 순서논리회로의 자동시험패턴생성 ( Automatic Test Pattern Generation of Synchronous Sequential Circuit )

안광선 ,  김명수 ,  박세명

한국통신학회 학술대회논문집

1989 .01

동기식 순서논리회로의 자동시험패턴생성 ( Automatic Test Pattern Generation of Synchronous Sequential Circuit )

안광선 ,  김명수 ,  박세명

특정연구 결과 발표회 논문집

1989 .01

유사조합 회로로의 변환에 기초한 부분 스캔 기법을 이용한 디지탈 순차 회로의 테스트 기법 연구

閔炯福

전기학회논문지

1994 .03

부동소수점 DSP core의 내장된 자체 테스트 회로 구현

진명구 ,  장훈

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

논리회로의 고장진단을 위한 퍼지테스트생성 기법

조재희 ,  강성수 ,  김용기

한국지능시스템학회 학술발표 논문집

1996 .11

순서다직논리회로의 파장이론에 관한 연구 ( A Study on the Expanded Theory of Sequential Multiple-valued Logic Circuit )

이동렬 ,  최승철

한국통신학회논문지

1987 .12

순차 회로를 위한 효율적인 지연 고장 테스트 알고리듬

허경희 ,  강용석 ,  강성호

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .11

CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )

정준모 ,  장원학 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1988 .11

측정이 쉬운 순서 논리회로의 설계에 관한 연구 ( A Study on the Design for the Easily Testable Sequential Circuits )

김연숙 ,  김용득

대한전자공학회 학술대회

1983 .01

CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Circuits )

조상복 ,  임인칠

전자공학회지

1984 .11

시이컨셜회로 구현에 관한 연구

박춘명

대한전자공학회 학술대회

2012 .11

내장된 자체 테스트 기법을 이용한 다중 클락 회로 테스트 방법론

서일석 ,  강용석 ,  강성호

대한전자공학회 기타 간행물

2001 .11

대규모 조합문제를 해결하기 위한 효율적인 논리함수 처리 시스템의 개발과 순서회로 설계에의 응용 ( Development of an Efficient Logic Function Manipulation System for Solving Large-Scale Combination Problems and its Application to Logic Design of Sequential Circuits )

권용진

한국통신학회논문지

1997 .08