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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 1998.11
- 수록면
- 1,318 - 1,326 (9page)
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조합 회로에 대한 검사 신호 자동 생성 알고리즘들이 단일 고착 결함에 대해서는 적은 비용으로 완전한 고장 검출률을 성취해감에 따라, 작은 크기의 검사 신호 집합을 계산하는 문제가 중요시되고 있다. 검사 신호 집합의 크기를 압축하면 다음과 같은 장점이 있다. (1) 검사 신호를 실제 회로에 적용하는데 드는 시간이 줄어든다. (2) 검사 신호를 저장하는데 필요한 저장 장치의 요구량이 감소된다.
본 논문에서는 새로운 검사 신호 압축 알고리즘을 사용하는 검사 신호 자동 생성 알고리즘을 제안한다. 이 검사 신호 압축 알고리즘은 적은 계산 시간을 보장하며 작은 크기의 검사 신호를 생성한다. 이 알고리즘은 COMPACTEST의 세 가지 경험적 알고리즘인 최대 독립 결함 집합, 회전형 역방향 추적, 그리고 복수개의 대상 결함을 고려한 검사 신호 자동 생성 알고리즘들을 변형하여 사용한다.
제안한 알고리즘의 효율을 입증하기 위해 본 논문은 기반 검사 신호 자동 생성 알고리즘으로서 PODEM을 사용하였고, 실험 대상 회로로서 ISCAS85 회로를 사용하였다. 실험 결과에 의하면, 본 논문은 기존 검사 신호 자동 생성 알고리즘의 고장 검출률을 저하시키지 않으면서 PODEM 알고리즘과 비교하여, 약 36%의 검사 신호 압축률을 보였고, 계산 시간에 있어서는 오히려 약 28%의 감소를 보였다.
본 논문에서는 새로운 검사 신호 압축 알고리즘을 사용하는 검사 신호 자동 생성 알고리즘을 제안한다. 이 검사 신호 압축 알고리즘은 적은 계산 시간을 보장하며 작은 크기의 검사 신호를 생성한다. 이 알고리즘은 COMPACTEST의 세 가지 경험적 알고리즘인 최대 독립 결함 집합, 회전형 역방향 추적, 그리고 복수개의 대상 결함을 고려한 검사 신호 자동 생성 알고리즘들을 변형하여 사용한다.
제안한 알고리즘의 효율을 입증하기 위해 본 논문은 기반 검사 신호 자동 생성 알고리즘으로서 PODEM을 사용하였고, 실험 대상 회로로서 ISCAS85 회로를 사용하였다. 실험 결과에 의하면, 본 논문은 기존 검사 신호 자동 생성 알고리즘의 고장 검출률을 저하시키지 않으면서 PODEM 알고리즘과 비교하여, 약 36%의 검사 신호 압축률을 보였고, 계산 시간에 있어서는 오히려 약 28%의 감소를 보였다.
목차
요약
Abstract
1. 서론
2. COMPACTEST
3. 새로운 검사 신호 압축 알고리즘
4. 새로운 검사 신호 압축 알고리즘의 검증
5. 결론
참고문헌
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