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조합논리회로의 검사입력생성문제(ATPG)는 회로의 복잡도가 증가함에 따라, 더욱 어려워 지고 있으며 보다 신속하게 검사입력을 구하기 위하여 여러 알고리즘이 개발되었다.
본 연구는 조합논리회로의 Topology 를 고려하여 Backtrack 이 불가피한 재수템 노드를 구조적으로 정량 분석하여 경로 활성화시에 성공율이 높은것을 택하므로써 검사입력생성이 효율적임을 보인다.

목차

요약

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 검사 입력 생성 문제

Ⅲ. 알고리즘의 구현 및 결과 고찰

Ⅳ. 결론

[참고 문헌]

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