NSDM : A New Scan Design Method for Test Time Reduction

Youngho Lee ,  Jongwha Chong

대한전자공학회 학술대회

1991 .06

테스트 시간과 테스트 전력 감소를 위한 선택적 세그먼트 바이패스 스캔 구조

양명훈 ,  김용준 ,  박재석 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .05

Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안

김용준 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2008 .10

지연고장 검출을 위한 LOS/LOC 스캔 테스트 기술

허용민 ,  최영철

한국인터넷방송통신학회 논문지

2014 .01

구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  신상훈 ,  박성주

정보과학회논문지(A)

1999 .09

Reduction of Test Data and Power in Scan Testing for Digital Circuits using the Code-based Technique

허용민 ,  신재흥

전자공학회논문지-IE

2008 .09

테스트 스케줄링을 이용한 VLSI 회로의 스캔 테스터블 설계

이재선 ,  류근장 ,  손윤식 외 5명

한국정보과학회 학술발표논문집

1993 .04

Emission-type THz NSOM 에 대한 수치해석

이경인 ,  윤석호 ,  박홍규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2006 .06

Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 테스트 패턴 인가 방식 ( An Efficient Test Pattern Application Method Using Boundary-Scan Architecture )

류근장 ,  이인학 ,  손윤식 외 6명

대한전자공학회 학술대회

1993 .01

대규모 집적회로 설계를 위한 무고정 부분 스캔 테스트 방법 ( No-Holding Partial Scan Test Method for Large VLSI Designs )

노현철 ,  이동호

전자공학회논문지-C

1998 .03

구조분석과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .10

Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 지연테스트기법 설계

이인학 ,  손윤식 ,  류근장 외 5명

한국정보과학회 학술발표논문집

1993 .10

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경태 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

테스트 데이터와 전력소비 단축을 위한 저비용 SOC 테스트 기법

허용민 ,  인치호

전자공학회논문지-SD

2004 .12

원형스캔 레이더 식별을 위한 스캔변수 추정기법

류영진 ,  하현주 ,  김환우

전자공학회논문지-SP

2006 .11

45˚ angled fiber를 이용한 고밀도 NSOM 정보저장 기기용 광 조사 장치

김원효 ,  이종현 ,  박강호

한국통신학회 기타 간행물

2002 .10

System-On-a-Chip(SOC)에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트

정준모 ,  정정화

전자공학회논문지-SD

2002 .12

배선 길이 최소화를 위한 그룹화된 스캔 체인 재구성 방법

이정환 ,  임종석

전자공학회논문지-SD

2002 .08