패턴 비교를 통한 TFT-LCD 패널의 결함 검출 방법

李炅玟; 張聞秀; 朴符堅

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자료유형: 학술저널

저자정보: 李炅玟張聞秀 (포항공과대학교) 朴符堅 (포항공과대학교)

저널정보: 대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제57권 제2호

발행연도: 2008.2

수록면: 307 - 313 (7page)

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In this paper, we propose a novel defects inspection algorithm for TFT-LCD panels. We first compensate the distorted image caused by the camera distortion and the uneven illumination environment using the least squares method and the bezier surface. We find a starting point of each pattern for restricting each pattern. A clean image is compared to each pattern to find defects using modified PCSR-G algorithm. The simulation example shows that our algorithm not only inspects the defects well, but also is robust to the I-pixel error.

#PCSR-G #TFT-LCD #검출 #결함 #베지어 #패널 #패턴

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1. [학술대회논문] - J. H. Kim / 2001 / A High-speed Highresolution Vision System for the Inspection of TFT LCD / Proceedings, ISIE 2001, IEEE International Symposium : 101 ~ 105

2. [학술대회논문] - K. Nakashima / 1994 / Hybrid Inspection System for LCD Color Filter Panels / 10th International Conference on Instrumentation and Measurement Technology : 689 ~ 692

3. [학술대회논문] - C. L. Chang / 2005 / An intelligent defect inspection technique for color filter / Proceedings of the 2005 IEEE InternationalConference on Mechatronics

4. [학술대회논문] - Y. Zhang / 2005 / A fuzzy neural network approach for quantitative evaluation of mura in TFT-LCD / Neural Networks and Brain, 2005.ICNN&B ’05 : 424 ~ 427

5. [학술대회논문] - K. B. Lee / 2004 / Defect Detection Method for TFT-LCD Panel Based on Saliency Map Model / TENCON 2004. 2004 IEEE Region 10 Conference : 223 ~ 226

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