TET-LCD 자동 수선시스템에서 결함이 있는 셀을 자동으로 추출하는 방법

조재수; 하광성; 이진욱; 김동현; 전재웅

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자료유형: 학술저널

저자정보: 조재수 (한국기술교육대학교) 하광성 (한국기술교육대학교) 이진욱 (한국기술교육대학교) 김동현 (디이엔티) 전재웅 (디이엔티)

저널정보: 제어로봇시스템학회 제어로봇시스템학회 논문지 제어로봇시스템학회 논문지 제14권 제5호

발행연도: 2008.5

수록면: 432 - 437 (6page)

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This paper proposes a defect cell extraction algorithm for TFT-LCD auto-repair system. Auto defect search algorithm and automatic defect cell extraction method are very important for TFT-LCD auto repair system. In the previous literature[1], we proposed an automatic visual inspection algorithm of TFT-LCD. Based on the inspected information(defect size and defect axis, if defect exists) by the automatic search algorithm, defect cells should be extracted from the input image for the auto repair system. For automatic extraction of defect cells, we used a novel block matching algorithm and a simple filtering process in order to find a given reference point in the LCD cell. The proposed defect cell extraction algorithm can be used in all kinds of TFT-LCD devices by changing a stored template which includes a given reference point. Various experimental results show the effectiveness of the proposed method.

#auto-repair system #TFT-LCD defect inspection #defect cell extraction

참고문헌 (4)

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1. [학술대회논문] - 조재수 / 2007 / 영상 형태학적 처리를 이용한 TFT-LCD 불량검출에 관한 연구 / 제 20 회 신호처리합동학술대회

2. [학술대회논문] - 조재수 / 2007 / TFT-LCD 결함 패턴 추출에 관한 연구 / 2007 정보제어 학술대회, 제천풍청

3. [학술대회논문] - H. Onishi / 2002 / A pattern defect inspection method by parallel grayscale image comparison without precise image alignment / IECON-PROCEEDINGS

4. [학술지(정기간행물)] - J.-S. Cho / 2004 / Robust shape-matching criterion for precision tracking of moving objects in correlated image sequences / Electronics Letters 40 (1) : 22 ~ 24

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