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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
고정환 (인하공업전문대학) 이원석 (동양공업전문대학) 원영진 (부천대학)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2010년 하계종합학술대회
발행연도
2010.6
수록면
1,787 - 1,788 (2page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2010

LCD 표면 검사를 위한 적응적 결함패턴 분류 알고리즘
고정환 ,  이원석 ,  원영진 대한전자공학회 학술대회 2010.06 학술대회자료
LCD 표면 검사를 위한 적응적 결함패턴 분류 알고리즘
고정환 ,  이원석 ,  원영진 대한전자공학회 학술대회 2010.06 학술대회자료

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In this paper, we propose an adaptive defect pattern algorithm for LCD surface inspection. The defect inspection algorithm of the LCD consists of preprocessing, feature extraction and defect classification. Preprocess removes noise from LCD image, using morphology ... 전체 초록 보기

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2010-569-003173834