TOF-SIMS의 Depth Profiling을 이용한 금속의 정량분석

임원철 ,  이지혜 ,  이연희

한국분석과학회 학술대회

2009 .05

Depth profile 측정 시에 영향을 주는 Sputtering rate에 관한 연구

김주광 ,  성인복 ,  강석태

한국진공학회 학술발표회초록집

2003 .08

[해설] TOF - SIMS를 이용한 표면분석

이연희 ,  한승희

분석과학

1997 .10

고 농도 대역에 Pre-Sputtering 방법 적용을 통한 High Dynamic Range SIMS Depth Profiling 구현

박상원 ,  김종훈 ,  고중규 외 2명

한국진공학회 학술발표회초록집

2007 .08

Depth Profiling에서 Sputtering Rate의 영향

김주광 ,  성인복 ,  김태준 외 2명

Applied Science and Convergence Technology

2003 .09

Conversion from SIMS depth profiling to compositional depth profiling of multi-layer films

Jong Shik Jang ,  Hye Hyen Hwang ,  Hee Jae Kang 외 1명

한국진공학회 학술발표회초록집

2011 .02

New analysis method using TOF-SIMS for the identification of amino acids

Ji Yeong SUNG ,  Sun-Mi JIN ,  Euh Duck JEONG 외 1명

한국진공학회 학술발표회초록집

2016 .08

TOF-SIMS study of polymer identification using parallel imaging MS/MS

Takuya MIYAYAMA ,  Shin-Ichi IIDA ,  G 외 4명

한국진공학회 학술발표회초록집

2016 .08

Imaging Analysis of Human Cells using ToF-SIMS and AFM

Jihye Lee ,  Minhwa Kang ,  Yeonhee Lee

한국진공학회 학술발표회초록집

2018 .08

Ar-GCIB를 이용하여 ToF-SIMS에서 얻은 쥐의 뇌조직 이미지

손현경 ,  이태걸

한국진공학회 학술발표회초록집

2016 .02

An ERD-TOF System for the Depth Profiling of Light Elements

김영석 ,  우형주 ,  김준곤 외 3명

Applied Science and Convergence Technology

1996 .03

Establishment and application of new analysis platform for battery electrode and materials using TOF-SIMS

Jae Cheol LEE ,  Juyeon PARK ,  Young JUNG

한국진공학회 학술발표회초록집

2016 .08

TOF-SIMS를 이용한 가돌리늄 특성분석연구

박진규 ,  임상호 ,  이치규 외 2명

한국분석과학회 학술대회

2015 .05

A study of sputter XPS depth profiling of Ta₂O5 / Si without preferential sputtering problems.

김경중 ,  문대원

한국진공학회 학술발표회초록집

1992 .07

Decision of Interface and Depth Scale Calibration of Multilayer Films by SIMS Depth Profiling

Hye Hyun Hwang ,  Jong Shik Jang ,  Hee Jae Kang 외 1명

한국진공학회 학술발표회초록집

2012 .02

Recent Developments in TOF - SIMS Application to Life Science and Nanotechnology

A.Benninghoven

한국진공학회 학술발표회초록집

2002 .06

Analysis of Inorganic and Organic Materials in Trace Evidence Using TOF-SIMS

Jihye Lee ,  Seon Hee Kim ,  Min Jung Kim 외 1명

한국분석과학회 학술대회

2015 .05

Compositional SIMS Depth Profiling of CIGS film

김경중 ,  황혜현 ,  장종식 외 1명

한국진공학회 학술발표회초록집

2011 .02

A TOF-SIMS Study of Artificially Photoaged Silk Fabrics

Lee ,  Boyoung ,  Ryu 외 4명

보존과학회지

2018 .01

Characterization of Ligands-Conjugated AuNPs by Using ToF-SIMS Imaging Technique

Hyun Kyong Shon ,  Mo ,  ena SAM Xaba 외 4명

한국진공학회 학술발표회초록집

2013 .02