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저자정보
강전홍 (한국표준과학연구원) 유광민 (한국표준과학연구원) 한상옥 (충남대학교) 구경완 (호서대학교)
저널정보
대한전기학회 대한전기학회 학술대회 논문집 2010 대한전기학회 전기설비부문회 추계학술대회 논문집
발행연도
2010.11
수록면
389 - 391 (3page)

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실리콘 웨이퍼의 비저항 정밀측정은 일반적으로 Four-Point Probe(FPP) method의 single-configuration 기술을 이용하여 측정한다. 이 측정방법은 시료의 표면에 프로브를 접촉시키면 실리콘 웨이퍼의 비저항을 쉽게 측정할 수 있는 방법이 ... 전체 초록 보기

목차

Abstract
1. 서론
2. 본론
3. 결론
[참고문헌]

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