LFSR Reseeding Methodology for Low Power and Deterministic Pattern

Myung-Hoon Yang ,  Yongjoon Kim ,  Youngkyu Pa 외 4명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

A heuristic method to reduce fault candidates for a speedy fault diagnosis

Hyungjun Cho ,  Joohwan Lee ,  Sungho Kang

대한전자공학회 ISOCC

2008 .11

A Deterministic Back-off Algorithm for wireless Networks

Jung-Woo Jin ,  Kyung-Jun Kim ,  Dong-hwan Kim 외 2명

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

2004 .08

Reducing Test Power and Improving Test Effectiveness for Logic BIST

Wang Weizheng ,  Cai Shuo ,  Xiang Lingyun

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2014 .10

Pattern Discovery by Genetic Algorithm in Syntactic Pattern Based Chart Analysis for Stock Market

Kim ,  Hyun-Soo

정보시스템연구

1994 .01

패턴 집단 생성 방식을 사용한 내장형 자체 테스트 기법

강용석 ,  김현돈 ,  서일석 외 1명

전자공학회논문지-SD

2002 .07

수정된 의사 무작위 패턴을 이용한 효율적인 로직 내장 자체 테스트에 관한 연구

이정민 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2006 .08

PSEUDO 入力에 의한 組合論理回路의 多重故障檢出

임인칠 ,  이양희 ,  김한우

(구)정보과학회논문지

1977 .12

이중 고장 목록을 이용한 고속 고장 진단 방법

이주환 ,  강성호

대한전자공학회 학술대회

2008 .05

Fault Diagnosis of Logical Circuit by use of Corrrelation and Neural Network

Hi ,  oshi Kashiwagi ,  Masato Sakata

대한전자공학회 학술대회

1992 .10

An Efficient Built-In Self-Test Algorithm for Neighborhood Pattern- and Bit-Line-Sensitive Faults in High-Density Memories

Dong -Chual Kang ,  Sung Min Pa ,  k 외 1명

[ETRI] ETRI Journal

2004 .12

IEC61850 기반의 Gateway 개발을 위한 이슈에 관한 연구

오무남 ,  이석배 ,  우천희 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2009 .07

Experimental Exploitation of Random and Deterministic Data Patterns for Stringent DDR4 I/O Timing Margins

Kiseok Lee ,  Tan Li ,  Sanghyeon Baeg

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2019 .08

메모리를 이용한 LFSR의 실현

백창현

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

메모리를 이용한 LFSR의 실현 ( Implementation of Linear Feedback Shift Register Using Memory )

백창현

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

투영을 이용한 pattern classification algorithm에 관한 연구 ( A study on pattern classification algorithm based on projection )

이정희 ,  권중장 ,  김성대 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

A Robust Fault Location Algorithm for Single Line-to-ground Fault in Double-circuit Transmission Systems

Wen-Hao Zhang ,  Uma ,  Rosadi 외 3명

Journal of Electrical Engineering & Technology

2011 .01

고장 대상 후보를 줄이기 위한 패턴 비교 알고리즘

조형준 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2007 .11

스캔입력 변형기법을 통한 새로운 저전력 스캔 BIST 구조

손현욱 ,  김유빈 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2008 .06

페이지 쉬프터 기반의 의사 난수 패턴 생성기

조성진 ,  최언숙 ,  황윤희

한국정보통신학회논문지

2010 .03