내장 전류계를 이용한 CMOS 회로의 전류 테스팅

장태환 ,  홍성제 ,  김종

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

CMOS 회로의 전류 테스팅를 위한 내장형 전류감지기 설계 ( Design of a Built-in Current Sensor for Current Testing Method in CMOS VLSI )

김강철 ,  한석붕

전자공학회논문지-B

1995 .11

CMOS 집적회로의 테스팅을 위한 새로운 내장형 전류감지 회로의 설계

홍승호 ,  김정범

대한전기학회 학술대회 논문집

2003 .11

CMOS 집적회로의 테스팅을 위한 새로운 내장형 전류감지 회로의 설계

홍승호 ,  김정범

대한전기학회 학술대회 논문집

2003 .11

CMOS 집적회로 테스팅을 위한 내장형 전류 감지 회로 설계

김태상 ,  홍승호 ,  곽철호 외 1명

전기전자학회논문지

2005 .07

On-line 테스팅을 위한 새로운 내장형 전류 감지 회로의 설계 ( Design of New Built-In Current Sensor of On-Line Testing )

곽철호 ,  김정범

전자공학회논문지-SD

2001 .07

CMOS VLSI의 전류 테스팅을 위한 자동테스트 패턴 생성기의 구현 ( Implementation of Automatic Test Pattern Generator for Current Testing In CMOS VLSI )

류진수 ,  이효상 ,  송근호 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

CMOS VLSI의 전류 테스팅을 위한 자동 테스트 패턴 생성기의 구현

류진수 ,  이효상 ,  송근호 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

VLSI 테스팅의 기술 동향

강성호 ,  강응석

전자공학회지

1998 .11

CMOS VLSI 회로에서 논리추출을 위한 효율적인 알고리즘 ( An Efficient Logic Extraction Algorithm for CMOS VLSI Circuits )

정자춘 ,  강민섭 ,  이철동 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1988 .01

SVL 회로를 이용한 내장형 전류 감지 회로 설계

김동호 ,  김정범

한국정보과학회 강원지부 학술대회 논문집

2007 .06

Elements of CMOS VLSI System Design

Sung Mo Kang

대한전자공학회 워크샵

1985 .01

저전력 CMOS 기준전류 발생회로

김유환 ,  권덕기 ,  이종렬 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2001 .06

전류 태스팅 기법을 사용한 CMOS IC의 고장 분석 ( Fault Analysis of CMOS Ics using Current Testing Technique )

한석붕 ,  김영일 ,  이건기 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

CMOS 테스트를 위한 Built-In Self-Test 회로 설계 ( A Built-In Self-Test Method for CMOS Circuits )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1992 .09

IDDQ 테스팅을 위한 내장형 전류 감지 회로 설계 ( Design of a Built - In Current Sensor for IDDQ Testing )

김정범 ,  홍성제 ,  김종

전자공학회논문지-C

1997 .08

Built-In Self-Test 방식을 사용한 VLSI 논리설계 ( Built-In Self Test Structures for VLSI )

이경한 ,  이재민 ,  한석붕 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

CMOS를 이용한 전류제어 파형발생회로의 설계 ( Design of Current Controlled Waveform Generator using CMOS )

이창희 ,  이영훈

대한전자공학회 학술대회

1993 .01

CMOS 기술을 이용한 신경회로망의 VLSI 구현 ( VLSI Implementation of Neural Networks Using CMOS Technology )

정호선

전자공학회논문지

1990 .03

CMOS VISI를 위한 전류 테스팅 기반 고장모델의 효율적인 중첩 알고리즘

김대익 ,  배성환

한국통신학회논문지

2004 .10