Deep submicron PMOSFET의 Scaling 방법

장성준 ,  김용택 ,  유종근 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

A New Analytical Model for Channel Thermal Noise of Deep-submicron RF MOSFETs

Jongwook Jeon ,  Yujo Yun ,  Y.W. Kim 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

A New MOSFET Design Concept Using Recessed Channel Structure for Deep Submicron Application

Woo Hyeong Lee ,  Yeon Cheol Heo ,  Young June Pa 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

DEEP SUBMICRON CMOS TECHNOLOGY AND DESIGN CHALLENGES

Bijan Dava ,  i

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

Hydrodynamic model을 이용한 Submicron MOSFET의 Simulation ( Simulation of Submicron MOSFET Using Hydrodynamic Model )

김충원 ,  한백형 ,  김경석

전자공학회논문지-A

1993 .11

SUBMICRON DEVICE RELIABILITY RESEARCH

Chenming Hu

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

Deep Submicron MOSFET에서 저온공정의 Inter-Layer-Dielectric 막이 게이트 산화막의 특성에 미치는 효과 ( Effects of Low Temperature Interlayer Dieletric Films on the Gate Quality of Deep Submicron MOSEFTS )

이상기 ,  황현상 ,  이영종 외 4명

대한전자공학회 워크샵

1997 .01

Reliability and Power Estimation of Deep Submicron VLSI Circuits

Ib ,  ahim Haji

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

증착된 비정질 실리콘층을 통한 As- Preamorphization 방법으로 형성된 소오스 / 드레인을 갖는 deep submicron PMOSFET 의 제작 ( Fabrication of deep submicron PMOSFET with the source / drain formed by the Method of As - Preamorphization through the Predeposited Amorphous Si Layer )

권상직 ,  김영환 ,  신영화 외 2명

전자공학회논문지-A

1995 .06

Submicron 소자를 위한 고속열처리 공정 ( Rapid Thermal Processing for Submicron Devices )

김충기

특정연구 결과 발표회 논문집

1988 .01

Submicron 소자를 위한 고속열처리 공정 ( Rapid Thermal Processing for Submicron Devices )

김충기

한국통신학회 학술대회논문집

1988 .01

Submicron에서의 소자 기술 동향

신형순

전자공학회지

1991 .09

Optical Resist Process Technology for Deep-Submicron Patterning

문승찬 ,  복철규 ,  김진섭 외 3명

대한전자공학회 워크샵

1991 .01

Submicron 이미지 분석을 이용한 수화물 분석방법

문주혁 ,  배성철

콘크리트학회지

2019 .05

유효채널 길이가 0.3㎛인 P+Poly Si Gate PMOSFET의 전기적 특성 ( A Study on Deep Submicron P+Poly Si Gate PMOSFET )

김호기 ,  김봉열 ,  이규홍 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .01

I-V Model in Strong Inversion and parameter Extraction of Submicron PMOSFET for Circuit Simulation and Statistical Process Characterization

Byung Jong Moon ,  Chan Kwang Pa ,  k 외 2명

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1990 .01

Electrical properties and thermal stability of Al/$WN_x$/Ti submicron contact structure

Kim ,  Yong-Tae ,  Sim 외 3명

한국반도체및디스플레이장비학회 학술대회

2002 .01

Deep Submicron급 CMOS 디바이스에서 Triple Well 형성과 래치업 면역 향상에 관한 연구 ( A Study on Improvement Latch-up immunity and Triple Well formation in Deep Submicron CMOS devices )

홍성표 ,  전현성 ,  강효영 외 2명

전자공학회논문지-D

1998 .09

Effects of Low Temperature Interlayer Dielectric Films on the Oxide Reliability and Hot Carrier Immunity of Deep Submicron MOSFET`s

이상기 ,  Hi Deok Lee ,  Young Jong Lee 외 3명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

Submicron Gate Structure의 신뢰성 및 노화현상에 관한 연구 ( Reliability and Degradation Phenomena of Submicron Gate Structure )

이명복 ,  이정일 ,  강광남

특정연구 결과 발표회 논문집

1989 .01