소각중성자 산란법을 이용한 도금층의 극미세 균열 형상의 비파괴적 분석

최용; 신은주; 한영수; 성백석

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자료유형: 학술저널

저자정보: 최용 (단국대학교) 신은주 (한국원자력연구원) 한영수 (한국원자력연구원) 성백석 (한국원자력연구원)

저널정보: 한국표면공학회 한국표면공학회지 한국표면공학회지 제49권 제2호

발행연도: 2016.4

수록면: 111 - 118 (8page)

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A method to quantitatively analyze the defects formed by the hydrogen evolution during electroplating was suggested based on the theoretical approach of the small angle neutron scattering technique. In case of trivalent chrome layers, an isolated defect size due to the hydrogen evolution was about 40 nm. Direct and pulse plating conditions gave the average defect size of about 4.9 and 4.5 μm with rod or calabash shape, respectively. Current density change of the pulse plating from 1.5 A/dm2 to 2.0 A/dm2 enlarged the average defect size from 3.3 to 7.8 μm. The defect morphology like rod or calabash was originated by inter-connecting the isolated defects. Small angle neutron scattering was useful to quantitatively evaluate defect morphology of the deposit.

#Electroplating #Trivalent chrome #Small angle neutron scattering #Defects #Non-destructive analysis method

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