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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2009.7
- 수록면
- 1,725 - 1,728 (4page)
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본 연구개발에서는 정해진 환경에서 최대의 불량검출 능력을 발휘할 수 있도록 공정을 개선하기 위하여 전 게이트 시각검사에 필수적인 FGV 패턴발생 장치와 공정제어 장치를 개발하였다. 본 연구개발을 통하여 접촉손실 (Tact Loss)을 0에 근접 한 수준으로 유지할 뿐만 아니라 손실 및 에러 발생시 신속한 대처가 가능하여 모듈의 수율 을 향상시킬 수 있을 것으로 기대된다. 또한 세부 동작 시퀀스를 제어하기 위한 H/W와 S/W 시스템을 생산라인에 실 장하고 성능점검 및 인증을 수행한 결과 Tact에 의한 Pixel 불량의 경우는 98.1%, Line 불량의 경우는 99.1%의 검출 율을 나타내었으며, Gate 및 Visual 레벨 테스트를 포함한 모듈공정 전체의 수율이 98.3%까지 증가하였다.
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1. [인터넷자원] - 한국디스플레이연구조합 / / 디스플레이의 이해
2. [학술대회논문] - M. Pedram / 2004 / Power Minimization in a Backlit TFT-LCD Display by Concurrent Brightness and Contrast Scaling / Proc. of DATE : 10252 ~
3. [학술지(정기간행물)] - M. S. Son / 2004 / Electrical simulation of the flicker in poly-silicon TFT-LCD pixels for the large-area and high-quality TFT-LCD develop- ment and manufacturing / IEEE Solid-State Electronics 48 (11) : 2307 ~ 2313
4. [학술지(정기간행물)] - Kim C / 2005 / Driving cold cathode fluorescent lamps in parallel / Electronics Letters 41 (4) : 163 ~ 164
5. [학술지(정기간행물)] - J. Y. Hwang / 2004 / Liquid crystal aligining capabilites and EO characteristics of the photoaligned TN-LCD on a photo-cross linkable polyimide based polymer / Mol. Liquid Crystal 412 : 259 ~ 268
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