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학술저널
저자정보
Chun-Hyung Cho (Hongik University) Jonghoek Kim (Hongik University) Hyuk-Kee Sung (Hongik University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.20 No.2
발행연도
2020.4
수록면
135 - 140 (6page)
DOI
10.5573/JSTS.2020.20.2.135

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A combined square-shaped van der Pauw (VDP) sensor is proposed for calculation of the difference of the in-plane normal-stresses in this work. In previous works, two separate measurements were required, which is so inconvenient and tricky, because the different pair of point-contacts were used for 0 and/or 90 degree oriented resistance measurement. This work analytically presented how to resolve these problems by using a combined VDP configuration and compared the in-plane normal-stresses differential sensitivities for the different silicon planes and the coordinate systems (un-primed or primed). Furthermore, we offered another approach using the voltage difference, in which the sensitivity was observed to be linearly proportional to the unstressed value of voltage V<SUB>ref</SUB> (= I x R).

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. BASIC THEORIES
III. CHIP DESIGN & ANALYSIS
IV. CONCLUSIONS
V. ACKNOWLEDGEMENTS
REFERENCES

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