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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Jang Hyun Kim (Pukyong National University) Sangwan Kim (Ajou University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.20 No.2
발행연도
2020.4
수록면
158 - 162 (5page)
DOI
10.5573/JSTS.2020.20.2.158

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This paper investigates the output characteristics in tunnel field-effect transistor (TFET). The nonlinear current (NLC) in output characteristics has remained as a critical issue for operating at low drain bias (V<SUB>DS</SUB>). In this paper, the energy band diagrams and charge density distributions are analyzed to confirm the relation between output current and V<SUB>DS</SUB>, based on the technology computer-aided design (TCAD) simulations. Then, the NLC is analyzed as a channel potential pinning which occurs from the charges supplied from the drain to the channel.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. DEVICE AND SIMULATION
III. RESULTS AND DISCUSSION
V. CONCLUSION
REFERENCES

참고문헌 (16)

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