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딥러닝을 이용한 웨이퍼 빈 맵 신규 패턴 검출
대한산업공학회지
2020 .06
Multi-class Data Description 기반의 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 분류 및 신규 불량 패턴 검출방법
대한산업공학회지
2022 .06
액티브 러닝을 활용한 반도체 웨이퍼 신규 불량 패턴 검출
대한산업공학회 추계학술대회 논문집
2021 .11
Wafer Map defects patterns classification using neural networks
대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집
2017 .04
합성곱 신경망을 이용한 웨이퍼 맵 기반 불량 탐지
대한산업공학회지
2018 .08
액티브 러닝을 활용한 반도체 웨이퍼 신규 불량 패턴 검출
대한산업공학회지
2022 .04
Semiconductor Wafer Defect Classification Using Support Vector Machine with Weighted Dynamic Time Warping Kernel Function
Industrial Engineering & Management Systems
2017 .09
Grad-CAM을 활용한 EfficientNetV2 기반 웨이퍼 맵 불량분석 연구
전기학회논문지
2023 .04
이미지 데이터 기반 제품 분류 및 결함 검출
한국소음진동공학회논문집
2022 .12
변분 오토인코더와 세그넷 기반 웨이퍼 불량패턴 탐지
대한산업공학회지
2019 .04
맵패턴지수를 이용한 반도체 품질 관리
한국경영공학회지
2017 .01
웨이퍼 품질 분류를 위한 결함 맵 노이즈 제거 알고리즘 개발
한국생산제조학회 학술발표대회 논문집
2024 .12
Wafer Map Failure Pattern Classification using Geometrical Transformation Invariant Convolutional Neural Network
대한기계학회 춘추학술대회
2021 .04
냉연 강판의 미세 결함 검출 기술
제어로봇시스템학회 논문지
2016 .04
An Optimal Filter Method of Transformed Pattern Graphs for Detection of Defective Products
한국정보과학회 학술발표논문집
2017 .12
웨이퍼 맵의 다중 결함 패턴 인지를 위한 벡터 표현 기반 캡슐 네트워크 구현
한국통신학회논문지
2023 .09
다중 스테이지 공정 센서 시그널 기반 웨이퍼 불량 분류 및 진단 네트워크
대한산업공학회 추계학술대회 논문집
2023 .11
반도체 공정에서의 Wafer Map Image 분석 방법론
대한산업공학회지
2015 .06
Wafer Pattern Recognition Using a 3D Image Processing Method in Semiconductor Manufacturing Process
대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집
2023 .05
집중유도형 교류전위차법의 알루미륨 탐촉자에 의한 강자성체 표면결함의 평가
한국기계기술학회지
2019 .01
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