CMOS회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

CMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘 ( A New Test Generation Algorithm for Detection of Faults in CMOS Circuits )

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

3치 논리회로의 고장분석 및 검출 ( Fault Analysis and Detection of Ternary Logic )

김종오 ,  김영건 ,  김흥수

전자공학회논문지-B

1995 .12

전력설비 진단시스템의 고장 추론을 적용하기 위한 퍼지 논리기법의 특성 개선

이현재 ,  박승화 ,  손진근 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2018 .04

전류 센서를 이용한 디지탈 논리 회로의 고장 검출 ( On the Detection of Faults on Digital Logic Circuits using Current Sensor )

신재흥 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1996 .02

반도체 집적회로의 고장 가능성에 기초한 테스트 패턴 생성

김상국 ,  박은화 ,  최태용 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

반도체 집적회로의 고장 가능성에 기초한 테스트 패턴 생성 ( Test Pattern Generation on the basis of Fault Probability in Semiconductor Integrated Circuits )

박은화 ,  조계철 ,  김상국 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

디지탈 논리회로에 대한 효율적인 테스트 패턴 생성 알고리듬 ( An Efficient Test Generation Algorithm for Digital Logic Circuits )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1991 .02

조합 논리 회로의 경로 지연 고장 검출을 위한 가중화 임의 패턴 테스트 기법 ( A Weighted Random Pattern Testing Technique for Path Delay Fault Detection in Combinational Logic Circuits )

허용민 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1995 .12

퍼지 논리 적용에 의한 배전계통의 고장 검출 시스템 개발

김창종 ,  오용택

대한전기학회 학술대회 논문집

1996 .07

퍼지 로직을 이용한 고장구간 판단 기법

김병구 ,  손주홤 ,  임성일

대한전기학회 학술대회 논문집

2011 .07

신경회로망을 이용한 조합 논리회로의 테스트 생성 ( Test Generation for Combinational Logic Circuits Using Neural Networks )

김영우 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1993 .09

조합논리회로의 고장 검출율 개선을 위한 회로분할기법 ( Circuit Partitioning to Enhance the Fault Coverage for Combinational Logic )

노정호 ,  김상진 ,  이창희 외 2명

전자공학회논문지-C

1998 .04

조합 논리 회로의 경로 지연고장 검출을 위한 효율적인 가중화 임의 패턴 생성 방법 ( An Efficient Weighted Random Pattern Generation Method for Detection of a Path Delay Fault in a Combinational Logic Circuits )

이광훈 ,  안철회 ,  이재웅 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

신경회로망을 이용한 조합 논리회로의 테스트 생성 ( Automatic Test Generation for combinational Logic Circuits Using Neural Networks )

김근수 ,  신종훈 ,  하상진 외 5명

대한전자공학회 학술대회

1992 .11

퍼지 Logic을 이용한 화재감지기법에 관한 연구

홍성호 ,  김두현 ,  김상철

한국화재소방학회 학술대회 논문집

2003 .01

동적퍼지모델기반 고장진단 시스템 및 응용

배상욱 ,  이중렬 ,  박귀태

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .07

회로 분할에 의한 순차회로의 테스트생성 ( Test Generation for Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용

전자공학회논문지-C

1998 .04

연결 그래프를 이용한 CMOS 논리회로의 테스트 생성 알고리즘 ( Test Generation Algorithm for CMOS Logic Circuits Using Connection Graph )

조상복 ,  신용철 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

BiCMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 패턴 생성

신재흥 ,  이병효 ,  김일남 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2003 .07