반도체 집적회로의 고장 가능성에 기초한 테스트 패턴 생성 ( Test Pattern Generation on the basis of Fault Probability in Semiconductor Integrated Circuits )

박은화 ,  조계철 ,  김상국 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

반도체 집적회로 제조공정과 설계에 기초한 고장목록 생성 ( Fault List Generation on the basis of Fabrication and Design in Semiconductor Integrated Circuits )

김상국 ,  조계철 ,  박은화 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

디스플레이 테스트를 위한 패턴 생성 회로 설계

조경연

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

논리회로의 고장진단을 위한 퍼지테스트생성 기법

조재희 ,  강성수 ,  김용기

한국지능시스템학회 학술발표 논문집

1996 .11

CMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘 ( A New Test Generation Algorithm for Detection of Faults in CMOS Circuits )

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

CMOS회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

BiCMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 패턴 생성

신재흥 ,  이병효 ,  김일남 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2003 .07

유전알고리즘을 이용한 조합회로용 테스트패턴의 고장검출률 향상 ( Fault Coverage Improvement of Test Patterns for Combinational Circuit using a Genetic Algorithm )

박휴찬

Journal of Advanced Marine Engineering and Technology (JAMET)

1998 .09

반도체 집적회로의 신뢰성 평가와 고장

천성일

한국신뢰성학회 학술대회논문집

2001 .06

고장 패턴을 이용한 시스템의 고장진단

이진하 ,  라경택 ,  이영석 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .07

Semiconductor Integrated Circuits in Coming Twenty First Century

Katsufusa Shono ,  Ryo Il Kang

대한전자공학회 세미나

1991 .01

고속 고장 진단을 위해 고장 후보 정렬과 테스트 패턴 정렬을 이용한 고장 탈락 방법

이주환 ,  임요섭 ,  김홍식 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .03

회로 분할에 의한 순차회로의 테스트생성 ( Test Generation for Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용

전자공학회논문지-C

1998 .04

Exhaustive 테스트 기법을 사용한 효율적 병렬테스팅

김우완

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2003 .04

독립고장과 양립 가능한 고장을 이용한 효율적인 테스트 패턴 압축 기법 ( An Efficient Algorithm for Test Pattern Compaction using Independent Faults and Compatible Faults )

윤도현 ,  강성호 ,  민형복

전자공학회논문지-SD

2001 .02

MUX의 고장검출을 위한 최소 테스트 패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Minimal Test Pattern Generation for the Fault Detection of the Multiplexer )

김철운 ,  김진문 ,  박종배 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1992 .01

반도체 RAM의 고장 검출을 위한 테스트 절차 ( A New Test Procedure for Functional Faults in Semiconductor Random Access Memories )

김윤홍 ,  한석붕 ,  정준모 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

회로 분할에 의한 대규모 순차회로의 테스트 생성 ( Test Generation for large Scale Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용 ,  정용군

한국통신학회 학술대회논문집

1997 .01

부동소수점 DSP core의 내장된 자체 테스트 회로 구현

진명구 ,  장훈

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

광직접회로 ( Optical Integrated Circuit )

이문기

대한전자공학회 심포지엄 논문집

1980 .01