메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

이 논문의 연구 히스토리 (11)

초록· 키워드

오류제보하기
Recently, with the trend towards miniaturization and multi-functionality in electronic products such as mobile phone, miniature IC packages such as Flip Chip package have brought new reliability problems. Reliability of IC packages during the drop impact becomes a critical issue. A Flip Chip package with solder bump composition of Sn-1.2Ag-O.7Cu was modeled, and dynamic response of the drop was analyzed by implicit finite element. analysis (FEA) with ANSYS Multiphysics. Also, model analysis was performed. In the results of the drop impact simulation, the stress and strain state in the solder joints were determined. Various peak acceleration shock G-levels and 0.5msec duration time were applied on the basis of JEDEC standard such as JESD22-B111.

목차

Abstract
1. 서론
2. 낙하충격해석을 위한 모델링
3. 낙하충격 해석결과 및 검토
4. 결론
후기
참고문헌

참고문헌 (0)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0