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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
이수진 (Seoul National University of Science and Technology) 김성걸 (Seoul National University of Science and Technology)
저널정보
한국생산제조학회 한국생산제조학회지 한국생산제조시스템학회지 Vol.24 No.1
발행연도
2015.2
수록면
117 - 123 (7page)

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The need for drop simulations for board-leveled flip chips in micro-system packaging has been increasing. There have been many studies on flip chips with various solder ball compositions. However, studies on flip chips with Sn-1.0Ag-0.5Cu and Sn-3.0Ag-0.5Cu have rarely been attempted because of the unknown material properties. According to recent studies, drop simulations with these solder ball compositions have proven feasible. In this study, predictions of the impact lifetime by drop simulations are performed considering Cu and Cu/Ni UBMs using LS-DYNA to alter the design parameters of the flip chips, such as thickness of the flip chip and size of the solder ball. It was found that a smaller chip thickness, larger solder ball diameter, and using the Cu/Ni UBM can improve the drop lifetime of solder balls.

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. 보드레벨 플립칩 모델링
3. 외재적 방법에 의한 낙하충격해석
4. 내재적 방법에 의한 낙하충격수명해석
5. 결론
References

참고문헌 (15)

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