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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 정보과학회논문지(C) 정보과학회논문지(C) 제2권 제4호
발행연도
1996.12
수록면
446 - 460 (15page)

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본 논문에서는 보드 시험을 위한 새로운 제어기를 설계 및 구현하였다. 보드를 시험하기 위한 구조에는 단일 스캔 경로와 다중 스캔 경로가 있다. 단일 스캔 경로 구조는 시험 데이타의 전송 경로인 스캔 경로가 하나로 연결되므로 스캔 경로가 단락이나 개방으로 결함이 생기면 나머지 스캔 경로에 올바른 시험 데이타를 입력할 수 없다. 다중 스캔 경로 구조는 모든 스캔 경로마다 별도의 신호선이 추가되므로 하드웨어 부담이 커진다. 본 논문에서는 단일 스캔 경로 구조와 다중 스캔 경로 구조의 이러한 문제점을 해결하기 위해 다중 스캔 경로 제어기(MSPC: Multi-Scan Path Controller)를 설계, 구현하고 이를 이용한 시험 절차를 제안한다. 다중 스캔 경로 제어기의 기능은 단일 보드 선택, 그룹 보드 선택, 전역 보드 선택, 스캔 경로 분할, 그리고 스캔 경로 선택이다. 다중 스캔 경로 제어기가 장착된 보드의 시험 구조를 단일 스캔 경로 구조와 비교하면, 스캔 경로상에 결함이 발생하더라도 그 결함은 하나의 스캔 경로에만 한정되어 다른 스캔 경로의 시험 데이타에는 영향을 주지 않는다. 뿐만 아니라, BIST(Built In Self Test)와 경계면 스캔 시험을 병렬로 수행함으로써 시험에 소요되는 시간을 단축한다. 다중 스캔 경로 제어기가 장착된 보드의 시험 구조를 다중 스캔 경로 구조와 비교하면, 스캔 경로마다 신호선을 공통으로 사용함으로써 신호선 추가에 따른 하드웨어 부담이 없다. 구현된 다중 스캔 경로 제어기와 시험 절차를 위해서 CPU 보드를 설계하고, 설계된 CPU 보드에 다중 스캔 경로 제어기를 장착하여 시험함으로써 동작 검증을 하였다. 다중 스캔 경로 제어기가 장착된 보드의 시험 구조를 기존의 시험 구조들과 비교, 분석한 결과를 통해 우수함을 보였다.

목차

요약

Abstract

1. 서론

2. IEEE 1149.1 경계면 스캔 구조

3. 보드 시험을 위한 구조

4. 제안된 다중 스캔 경로 제어기의 구현

5. 다중 스캔 경로 제어기의 동작 검증 및 비교 분석

6. 결론

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