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저자정보
Kim Tae-Hun (Kyungpook National University) Lee Eun-Young (Kyungpook National University) Ryu Chun-Ha (Kyungpook National University) Park Kil-Houm (Kyungpook National University)
저널정보
한국통신학회 한국통신학회 학술대회논문집 한국통신학회 종합 학술 발표회 논문집 (하계) 2010
발행연도
2010.6
수록면
1,123 - 1,126 (4page)

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TFT-LCD image consists of ununiform background, random noises and target defect signal components. Defects in TFT-LCD have some intensity variations compared to background region. It is sometimes difficult for human inspectors to figure out. In this paper, we propose multi-level threshold scheme for detection of the real defect using probability density function with Parzen Window. The experimental results show that the proposed algorithms produce promising results and can be applied to automated inspection systems for finding defects in the TFT-LCD image.

목차

Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Characteristics of TFT-LCD
Ⅲ. The Proposed Algorithm
Ⅳ. Experimental Results
Ⅴ. Conclusions
References

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