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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
정민철 (상명대학교 공과대학 컴퓨터시스템공학과)
저널정보
한국반도체디스플레이기술학회 반도체디스플레이기술학회지 반도체디스플레이기술학회지 제9권 제3호
발행연도
2010.1
수록면
59 - 63 (5page)

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This paper proposes computer visual inspection algorithms for various LCD defects which are found in a manufacturing process. Modular vision processing steps are required in order to detect different types of LCD defects. Those key modules include RGB filtering for pixel defects, gray-scale morphological processing and Hough transform for line defects, and adaptive threshold for spot defects. The proposed algorithms can give users detailed information on the type of defects in the LCD panel, the size of defect, and its location. The machine vision inspection system is implemented using C language in an embedded Linux system for a high-speed real-time image processing. Experiment results show that the proposed algorithms are quite successful.
#LCD Defect Inspection #RGB filtering #Morphological Processing #Hough Transform #Adaptive Threshold

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