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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2008.11
- 수록면
- 379 - 382 (4page)
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This paper presents a segmented scan architecture to reduce both test application time and test power consumption. The proposed scan architecture partitions scan chains into several segments and groups these segments into several compatible segment groups. All segments within each compatible segment group are filled with test vector data in parallel. Since scan shift operations are limited to segments, the test application time and test power can be significantly reduced.
목차
Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. SEGMENT GROUPING TECHNIQUE
Ⅲ. SEGMENTED SCAN ARCHITECTURE
Ⅳ. EXPERIMENTAL RESULTS
Ⅴ. CONCLUSIONS
ACKNOWLEDGMENT
REFERENCES
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