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대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 학술대회 논문집 제12권 2호
발행연도
1989.11
수록면
191 - 194 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (5)

1990

Net-list를 이용한 조합 논리 회로의 의사-전체검사 패턴생성에 관한 연구
김진문 ,  이강현 ,  박종백 외 1명 대한전자공학회 학술대회 1990.11 학술대회자료
Net-list를 이용한 조합 논리 회로의 의사-전체검사 패턴생성에 관한 연구 ( A Study on the Pseudo-exhaustive Test Pattern Generation of Combinational Logic Circuits Using the Net-list )
김진문 ,  이강현 ,  박종백 외 1명 대한전자공학회 학술대회 1990.11 학술대회자료
Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )
김진문 ,  송원국 ,  이강현 외 1명 대한전자공학회 학술대회 1990.07 학술대회자료
조합 논리 회로의 기능적 출력 검증을 위한 의사-전체검사 패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Pseudo-Exhaustive Test Pattern Generation for the Functional Output Verification of Combinational Logic Circuits )
김진문 ,  이강현 ,  김용득 대한전자공학회 학술대회 1990.01 학술대회자료

1989

AALG의 검사패턴 감소를 위한 연구 ( A Study on the Reduction for the Test Set of AALG )
김진문 ,  이강현 ,  김용득 대한전자공학회 학술대회 1989.11 학술대회자료

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