하드웨어 고장 검출을 위한 행위레벨 설계에서의 테스트패턴 생성 ( High Level Test Generation in Behavioral Level Design for Hardware Faults Detection )

김종현 ,  윤성욱 ,  박승규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

하드웨어 고장 검출을 위한 행위레벨 설계에서의 테스트패턴 생성

김종현 ,  윤성욱 ,  박승규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

시스템 진단을 위한 실장 MUX의 검사패턴 생성 알고리듬 ( The Test Pattern Generation Algorithm of Embedded MUX for the System Diagnosis )

이강현 ,  김용득

전자공학회논문지-B

1993 .04

테스트를 고려한 8 × 8 MUX의 설계 ( A 8 x 8 MUX Design with Testability )

서태석 ,  손진우 ,  엄태원 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1987 .01

테스트를 고려한 8*8 MUX의 설계

서태석 ,  손진우 ,  엄태원 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

CMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘 ( A New Test Generation Algorithm for Detection of Faults in CMOS Circuits )

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

CMOS회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

반도체 집적회로의 고장 가능성에 기초한 테스트 패턴 생성

김상국 ,  박은화 ,  최태용 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

반도체 집적회로의 고장 가능성에 기초한 테스트 패턴 생성 ( Test Pattern Generation on the basis of Fault Probability in Semiconductor Integrated Circuits )

박은화 ,  조계철 ,  김상국 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

고장 패턴을 이용한 시스템의 고장진단

이진하 ,  라경택 ,  이영석 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .07

BiCMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 패턴 생성

신재흥 ,  이병효 ,  김일남 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2003 .07

논리회로의 고장진단을 위한 퍼지테스트생성 기법

조재희 ,  강성수 ,  김용기

한국지능시스템학회 학술발표 논문집

1996 .11

고속 고장 진단을 위해 고장 후보 정렬과 테스트 패턴 정렬을 이용한 고장 탈락 방법

이주환 ,  임요섭 ,  김홍식 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .03

딜레이 보상 기법을 적용한 바이너리-트리 구조의 CMOS 16:1 멀티플렉서

손관수 ,  김길수 ,  김규영 외 1명

전자공학회논문지-SD

2008 .02

독립고장과 양립 가능한 고장을 이용한 효율적인 테스트 패턴 압축 기법 ( An Efficient Algorithm for Test Pattern Compaction using Independent Faults and Compatible Faults )

윤도현 ,  강성호 ,  민형복

전자공학회논문지-SD

2001 .02

A High Speed and Low Power 4:1 Multiplexer Architecture for Graphic Memory Interface

Ji-Seop Song ,  Sang-Hyuk Yang ,  Eung-ju Kim 외 2명

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

2010 .06

퍼지 패턴분류를 이용한 전력계통에서의 고장검출

김희수 ,  고재호 ,  방성윤 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

1998 .07

상위 수준 설계에서의 테스트패턴 생성

김종현 ,  박승규 ,  김동욱

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

상위 수준 설계에서의 테스트패턴 생성 ( High Level Test Generation )

김종현 ,  박승규 ,  김동욱

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

GaAs 논리회로를 이용한 고속 4 : 1 MUX 설계에 관한 연구 ( A design of high-speed 4 : 1 Multiplexer using Logic Gates )

김학선 ,  윤몽한 ,  조희철 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

1988 .01