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저자정보
전병주 (서울대학교) 하종문 (서울대학교) 이준민 (서울대학교) 박찬희 (서울대학교) 김수지 (서울대학교) 윤병동 (서울대학교)
저널정보
대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2016년도 학술대회
발행연도
2016.12
수록면
1,398 - 1,402 (5page)

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Chemical-Mechanical planarization (CMP) is a process to flatten a surface of a substrate with combination of chemical and mechanical effect. For a successful CMP process, various operating parameters (e.g. rotating speed and pressure) of CMP should be optimized. However, relationship between the operating parameters and the performance of the CMP process has not been fully identified. To address this challenge, this paper introduces a model that estimates the removal rate of Chemical-Mechanical planarization (CMP) process which is known to represent performance of the CMP machine using various time-series operating parameters. First, 135 features were extracted from the time-series variables for physical representation of the polishing process. Second, Gaussian process (i.e. Kriging) and regression tree were employed to estimate the removal rate of the CMP process. To avoid the overfitting problems, various feature selection schemes were used to define candidates for the best feature subsets. Finally, ensemble regression model was developed to integrate the regression models with the feature subsets.

목차

Abstract
1. 서론
2. 연마율 예측을 위한 특성치 추출(Feature Extraction)
3. 기계 학습을 통한 웨이퍼 연마율 예측
4. 연마율 추정을 위한 Ensemble Model
5. 결론
참고문헌

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