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저자정보
김광수 (연세대학교) 한상우 (연세대학교) 박영민 (연세대학교) 임민영 (연세대학교) 정성욱 (연세대학교) 정의영 (연세대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2015년도 대한전자공학회 정기총회 및 추계학술대회
발행연도
2015.11
수록면
853 - 856 (4page)

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NTV(Near-Threshold Voltage) region is distinguished by large delay values and variability of gate cells. In order to validate commercially available cell characterization methodologies, we perform an extensive evaluations on NLDM delay models of inverter cell on NTV regions and compare the effect of parametric variations over gate delay on NTV and nominal voltage regions, disclosing a need for NTV-aware variation modeling methodologies.

목차

Abstract
I. 서론
II. 본론
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌

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