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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
이정진 (전자부품연구원) 손형진 (전자부품연구원) 김성현 (전자부품연구원)
저널정보
한국태양광발전학회 Current Photovoltaic Research Current Photovoltaic Research Vol.5 No.3
발행연도
2017.9
수록면
83 - 88 (6page)

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The growth of intermetallic compounds is an important factor in the reliability of solar cells. Especially, the temperature change in the soldering process greatly affects the thickness of the intermetallic compound layer. In this study, we investigated the intermetallic compound growth by Sn-diffusion in solder joints of solar cells. The thickness of the intermetallic compound layer was analyzed by IR lamp power and hot plate temperature control, and the correlation between the intermetallic compound layer and the adhesive strength was confirmed by a 90° peel test. In order to investigate the growth of the intermetallic compound layer during isothermal aging, the growth of the intermetallic compound layer was analyzed at 85°C and 85% for 500 h. In addition, the activation energy of Sn was calculated. The diffusion coefficient of the intermetallic compound layer was simulated and compared with experimental results to predict the long-term reliability.

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. 실험방법
3. 결과 및 고찰
4. 결론
References

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2018-530-001241070